[发明专利]一种基于多普勒光学位移法的振型分析方法及其应用有效
申请号: | 201710180210.7 | 申请日: | 2017-03-23 |
公开(公告)号: | CN106918389B | 公开(公告)日: | 2020-05-22 |
发明(设计)人: | 曾滨;许庆;邵彦超 | 申请(专利权)人: | 中冶建筑研究总院有限公司;中国京冶工程技术有限公司 |
主分类号: | G01H9/00 | 分类号: | G01H9/00;G01M7/02 |
代理公司: | 北京中财易清专利代理有限公司 11518 | 代理人: | 路远 |
地址: | 100088 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: |
本发明公开了一种基于多普勒光学位移法的振型分析方法,所述振型分析方法包括:1)选择多个检测点,然后通过激光多普勒振动传感器依次在每个检测点向标的建筑物发射激光,并接收反射光;2)通过步骤1)得到每个检测点的位移数据X |
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搜索关键词: | 一种 基于 多普勒 光学 位移 分析 方法 及其 应用 | ||
【主权项】:
一种基于多普勒光学位移法的振型分析方法,其特征在于,所述振型分析方法包括:1)选择多个检测点,然后通过激光多普勒振动传感器依次在每个检测点向标的建筑物发射激光,并接收反射光;2)通过步骤1)得到每个检测点的位移数据Xi,j,其中,i为检测点位编号,j为监测数据采样点;3)对位移数据Xi,j,进行两次差分计算,获得每个监测位点的加速度信号Acci,j。
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