[发明专利]基于缝隙波导近场耦合的无源互调测试方法

摘要

本发明公开了一种基于缝隙波导近场耦合的无源互调测试方法，本方法是在常规PIM测试方法的基础上，在测试系统中加入缝隙波导结构，实现近场耦合PIM测试功能。包括低PIM带开缝的波导，调控耦合强度的介质板，缝隙尺寸及分布的优化方法。本发明能够用来评估微波部件材料非线性和接触非线性的大小，为微波部件低PIM设计和工艺控制提供指导，为生产环节中PIM来源提供检测方法，提高产品良率。

主权项

基于缝隙波导近场耦合的无源互调测试方法，其特征在于，在常规PIM测试方法的基础上，在测试系统中加入缝隙波导结构，实现近场耦合PIM测试功能：具体步骤如下：1)测试时，待测件DUT放在缝隙波导上，在缝隙波导外壁的缝隙处，覆盖高介电常数的介质板以减弱外泄电磁场远场的强度，缝隙波导并没有形成辐射远场，在测试频段内，缝隙波导两端口的S21近似为0dBm，通过调控介质板的厚度以及波导缝隙的长度，可以控制待测件表面电流的强弱；2)待测件DUT，Device Under Test放置于介质板上，DUT的结构包括点线面类型的结构,其典型应用场景为：平板压接、圆柱插接和丝网搭接三类金属接触结构；根据研究的金属接触结连接形式，设计DUT结构，并使用网分确认缝隙波导加载DUT时其S21不会恶化；3)激励载波与PIM信号的拾取都使用同一个波导实现，对待测样PIM的检测用一套PIM测试系统就能完成，并且能够做到随时在线更换待测样。