[发明专利]一种利用光纤光栅在超低温下测量材料应变的方法有效
| 申请号： | 201710182354.6 | 申请日： | 2017-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN106813592B | 公开（公告）日： | 2019-03-29 |
| 发明（设计）人： | 蒋正武;邓子龙;钱辰 | 申请（专利权）人： | 同济大学 |
| 主分类号： | G01B11/16 | 分类号： | G01B11/16 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 赵继明 |
| 地址： | 200092 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： |
本发明涉及一种利用光纤光栅在超低温下测量材料应变的方法，将光纤光栅传感器及温度计预埋在待测试材料中，在超低温环境下获取测量值，计算得到超低温下的材料应变ε，材料应变ε计算式为： |
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| 搜索关键词： | 一种 利用 光纤 光栅 超低温 测量 材料 应变 方法 | ||
【主权项】：
1.一种利用光纤光栅在超低温下测量材料应变的方法，其特征在于，该方法通过将光纤光栅传感器及温度计预埋在待测试材料中，在超低温环境下获取测量值，计算得到超低温下的材料应变ε，所述的超低温为低于‑150℃的温度，材料应变ε计算式为：![]()
其中，n为光纤有效折射率，pe为已知的有效弹光系数，λ为由光纤光栅传感器测得的反射波长，δλ为反射波长变化量，ΔT为由温度计测得的温度变化，![]()
通过标定光纤光栅传感器得到，标定过程包括以下步骤：S1，将温度计与光纤光栅温度传感器置于温度可测的环境中，得到温度‑波长曲线，温度范围下限低于‑150℃；S2，对温度‑波长曲线进行拟合，得到超低温度下的温度与波长二次关系式。
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