[发明专利]磁场强度的校准方法、装置和终端设备在审
| 申请号： | 201710183967.1 | 申请日： | 2017-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN106918790A | 公开（公告）日： | 2017-07-04 |
| 发明（设计）人： | 周毕兴 | 申请（专利权）人： | 深圳市沃特沃德股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/00 | 分类号： | G01R33/00 |
| 代理公司： | 深圳市明日今典知识产权代理事务所(普通合伙)44343 | 代理人： | 王杰辉 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明揭示了一种磁场强度的校准方法、装置和终端设备，所述方法包括以下步骤确定当前存在的应用场景；根据预定的应用场景与磁场变化量的对应关系获取当前存在的应用场景所产生的磁场变化量，将所述磁场变化量作为磁场强度的校准参数；将磁场强度的测量值与所述校准参数相减，得到校准后的磁场强度。校准后的磁场强度更加接近当前环境下真实的外部磁场强度，从而消除了终端设备内部的电磁场环境对测量结果的影响，提高了终端设备探测磁场强度的精度和准确度，使得终端设备上的各种应用如指南针、地图导航、金属探测器、游戏探测等运行得更加准确。 | ||
| 搜索关键词： | 磁场强度 校准 方法 装置 终端设备 | ||
【主权项】：
一种磁场强度的校准方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：确定当前存在的应用场景；根据预定的应用场景与磁场变化量的对应关系获取当前存在的应用场景所产生的磁场变化量，将所述磁场变化量作为磁场强度的校准参数；将磁场强度的测量值与所述校准参数相减，得到校准后的磁场强度。
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