[发明专利]一种测量平测头平面平行度的检测笔及其检测方法

摘要

一种测量平测头平面平行度的检测笔及其检测方法，它涉及几何量测量中的形位公差测量领域。本发明解决了现有的平测头平面平行度的检测方法中因采用平行平晶检测，存在受人为经验估读数据因素影响较大，效率较低，得到一次测量结果所需时间长，且测值不稳定的问题。本发明的一种测量平测头平面平行度的检测笔的测杆通过螺纹连接端旋拧在底座一端开设的螺纹孔内，测头包裹在测杆另一端的端部；采用检测笔测量平测头平面平行度的方法包括以下步骤：步骤一、设置点测量零位；步骤二、计算出点测量的最大差值；步骤三、设置线测量零位；步骤四、计算出线测量的最大差值；步骤五、比较点测量与线测量的结果。本发明用于测量平测头平面平行度。

主权项

1.一种测量平测头平面平行度的方法，所述一种测量平测头平面平行度的方法利用一种测量平测头平面平行度的检测笔实现，所述一种测量平测头平面平行度的检测笔包括测头(1)、测杆(2)和底座(3)，测头(1)、测杆(2)和底座(3)由右至左依次连接，底座(3)为圆柱形底座，圆柱形底座的一端开设螺纹孔，测杆(2)的一端设有螺纹连接端(2‑1)，测杆(2)的中部设有圆柱形凸台(2‑2)，测杆(2)的另一端设有圆柱形长杆(2‑3)，螺纹连接端(2‑1)、圆柱形凸台(2‑2)和圆柱形长杆(2‑3)为一体式结构，测杆(2)通过螺纹连接端(2‑1)旋拧在底座(3)一端开设的螺纹孔内，测头(1)为球形测头，球形测头包裹在测杆(2)另一端的圆柱形长杆(2‑3)的端部；其特征在于：所述一种测量平测头平面平行度的方法包括以下步骤：步骤一、设置点测量零位：在万能测长机的每个平测头平面内均匀分布上、下、左、右和中间五个检测点，让检测笔的测头(1)与万能测长机的两平测头上的中间点接触，稳定后设置为零位；步骤二、计算出点测量的最大差值：将检测笔移动到上、下、左、右四个检测点，测量上、下、左、右四个检测点，记录五点测量值并计算出测量值之间的最大差值；步骤三、设置线测量零位：将检测笔放在万能测长机的两平测头中间位置，与两平测头接触稳定后，设置为零位；步骤四、计算出线测量的最大差值：在平测头的最大直径处以十字交叉的方法自上而下，自左而右连续移动测量，记录最大与最小的差值；步骤五、比较点测量与线测量的结果：点测量与线测量得出结果中较大值作为最终的测量结果，得到平测头平面平行度值。