[发明专利]一种试卷分数的统计方法及系统在审

专利信息
申请号: 201710184026.X 申请日: 2017-03-24
公开(公告)号: CN106874893A 公开(公告)日: 2017-06-20
发明(设计)人: 刘涛;黄金;黄俊 申请(专利权)人: 武汉天喻教育科技有限公司;武汉天喻信息产业股份有限公司
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G06K9/32;G06K9/40;G06K9/62
代理公司: 北京捷诚信通专利事务所(普通合伙)11221 代理人: 王卫东
地址: 430000 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种试卷分数的统计方法,涉及教育考试领域,包括步骤采集试卷图像,并对试卷图像进行预处理,预处理用于提高试卷图像的对比度并去除试卷图像中的噪声;对预处理后的试卷图像进行区域定位,获取只含手写分数信息的目标图像;对目标图像进行分数字符分割,得到每道试题的字符图像;识别每道试题的字符图像,得到每道试题的分数;计算并录入试卷的总分数。本发明的试卷分数的统计方法,可以根据每道试题的手写分数统计试卷总分数,在保留教师人工批阅习惯的同时,减低教师的工作量,适用范围广。
搜索关键词: 一种 试卷 分数 统计 方法 系统
【主权项】:
一种试卷分数的统计方法,用于根据每道试题的手写分数统计试卷总分数,其特征在于,包括如下步骤:S1:采集试卷图像,并对所述试卷图像进行预处理,所述预处理用于提高试卷图像的对比度并去除试卷图像中的噪声;S2:对预处理后的试卷图像进行区域定位,获取只含手写分数信息的目标图像;S3:对所述目标图像进行分数字符分割,得到每道试题的字符图像;S4:识别每道试题的字符图像,得到每道试题的分数;S5:计算并录入试卷的总分数。
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