[发明专利]调校探针位置的测试板及测试方法在审
| 申请号： | 201710188413.0 | 申请日： | 2017-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN108663648A | 公开（公告）日： | 2018-10-16 |
| 发明（设计）人： | 刘宇青;杨炜达;侯晓峰;梁国栋 | 申请（专利权）人： | 富泰华工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 | 代理人： | 习冬梅 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市宝安区观澜街道大三社*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种调校探针位置的测试板，包括至少一用于测试探针的测试点，该测试点包括多个具有导电功能的测试区，每一测试区与不同阻值的电阻相连接，该多个测试区包括第一测试区及多个第二测试区，该多个第二测试区围绕该第一测试区设置而包围该第一测试区，该测试点还包括第一绝缘区及多个第二绝缘区，该第一测试区通过该第一绝缘区与该多个第二测试区相间隔开，该多个第二测试区中每两个第二测试区通过一第二绝缘区相间隔开。本发明还涉及一种调校探针位置的测试方法。本发明实现简单，能够有效提高探针调校的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试区 绝缘区 调校 探针位置 测试点 测试板 测试 测试探针 导电功能 电阻 探针 包围 | ||
【主权项】：
1.一种调校探针位置的测试板，包括至少一用于测试探针的测试点，其特征在于，该测试点包括多个具有导电功能的测试区，每一测试区与不同阻值的电阻相连接，该多个测试区包括第一测试区及多个第二测试区，该多个第二测试区围绕该第一测试区设置而包围该第一测试区，该测试点还包括第一绝缘区及多个第二绝缘区，该第一测试区通过该第一绝缘区与该多个第二测试区相间隔开，该多个第二测试区中每两个第二测试区通过一个第二绝缘区相间隔开。
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