[发明专利]一种测量痕量金属离子浓度的方法和装置有效
申请号: | 201710188941.6 | 申请日: | 2017-03-27 |
公开(公告)号: | CN106918567B | 公开(公告)日: | 2019-05-28 |
发明(设计)人: | 阳春华;龚娟;吴书君;朱红求;李勇刚;陈俊名 | 申请(专利权)人: | 中南大学 |
主分类号: | G01N21/31 | 分类号: | G01N21/31;G06F17/18;G06F17/16;G06F17/10 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 汤财宝 |
地址: | 410083 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明提供了一种测量痕量金属离子浓度的方法和装置,该方法包括:S1,根据包含痕量金属离子的溶液在全波段的吸光度,使用预测均方根误差获取所述全波段内的最优波长区间;S2,通过相关系数法获取所述最优波长区间内测量所述痕量金属离子浓度的有效波长点。通过采用间隔‑相关系数偏最小二乘法,快速高效地去除高浓度基体离子的敏感区域和空白信息区域,剔除非线性强、信息量少、被基体离子掩蔽的波长点,最大程度地保留痕量待测离子完整可用的信息,减小高浓度基体离子对痕量待测离子的干扰,同时保持待测离子的灵敏度,减少变量个数,提高模型的精度和实时性。 | ||
搜索关键词: | 一种 测量 痕量 金属 离子 浓度 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种测量痕量金属离子浓度的方法,其特征在于,包括:S1,根据包含痕量金属离子的溶液在全波段的吸光度,使用预测均方根误差获取所述全波段内的最优波长区间;其中,所述步骤S1包括:S11,将所述全波段分为多个子区间,通过PLS建模获取每个所述子区间模型的预测均方根误差;S12,将所述预测均方根误差从小到大的多个所述子区间合并,获取所述最优波长区间;S2,通过相关系数法获取所述最优波长区间内测量所述痕量金属离子浓度的有效波长点;其中,所述步骤S2包括:S21,根据所述最优波长区间内波长点对应的吸光度,获取吸光度矩阵,并根据所述吸光度矩阵获取相关系数矩阵;S22,逐行地将所述相关系数矩阵中的元素与多个相关系数阈值分别进行比较,获取所述元素大于所述相关系数阈值个数最多的目标行,每个所述相关系数阈值对应一个所述目标行;S23,分别获取每个所述目标行中大于对应的所述相关系数阈值的元素所对应的目标波长点,每个所述相关系数阈值对应的多个所述目标波长点构成一个波长子集;S24,通过PLS建模获取多个所述波长子集的预测均方根误差,具有最小所述预测均方根误差的所述波长子集所包含的目标波长点为所述有效波长点。
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