[发明专利]一种基于机器视觉的磁瓦缺陷检测取相系统在审

专利信息
申请号: 201710189053.6 申请日: 2017-03-27
公开(公告)号: CN108663369A 公开(公告)日: 2018-10-16
发明(设计)人: 薛春花;王文涛;陈志列 申请(专利权)人: 研祥智能科技股份有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 代理人: 张瑾
地址: 518107 广东省深圳市光*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种基于机器视觉的磁瓦缺陷检测取相系统,包括内/外弧面磨歪检测取相模块,1/2外弧面其他缺陷检测取相模块,内弧面其他缺陷检测取相模块,边面缺陷检测取相模块和端面缺陷检测取相模块;其中内/外弧面磨歪检测取相模块包括第一条光源和第一相机,第一条光源包括与所述磁瓦的直边中点连线所在垂直平面夹锐角对称的左侧第一条光源和右侧第一条光源,第一相机用于拍摄磁瓦的内/外弧面且位于所述磁瓦的内/外弧面几何中心的正上方,磁瓦位于第一条光源的光源区域中央。本发明能够解决磁瓦分拣中人工效率低且机器分拣易出错的问题,使得基于机器视觉的磁瓦缺陷自动检测更精准。
搜索关键词: 磁瓦 缺陷检测 外弧面 光源 基于机器 相系统 视觉 检测 相机 端面缺陷 光源区域 机器分拣 几何中心 人工效率 直边中点 自动检测 内弧面 边面 分拣 连线 锐角 出错 对称 拍摄
【主权项】:
1.一种基于机器视觉的磁瓦缺陷检测取相系统,包括用于对磁瓦的内/外弧面进行打光和取相的内/外弧面磨歪检测取相模块;用于对所述磁瓦的外弧面进行打光和取相的1/2外弧面其他缺陷检测取相模块;用于对所述磁瓦的内弧面进行打光和取相的内弧面其他缺陷检测取相模块;用于对所述磁瓦的边面进行打光和取相的边面缺陷检测取相模块;用于对所述磁瓦的端面进行打光和取相的端面缺陷检测取相模块;其特征在于,所述内/外弧面磨歪检测取相模块包括:第一条光源,所述第一条光源包括左侧第一条光源和右侧第一条光源,所述左侧第一条光源和所述右侧第一条光源与所述磁瓦的直边中点连线所在垂直平面夹锐角对称;第一相机,用于拍摄所述磁瓦的内/外弧面,且位于所述磁瓦的内/外弧面几何中心的正上方;其中,所述磁瓦位于所述第一条光源的光源区域中央。
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