[发明专利]一种基于阵列电磁传感器的材料微损伤检测方法及系统在审

专利信息
申请号: 201710191194.1 申请日: 2017-03-28
公开(公告)号: CN106940343A 公开(公告)日: 2017-07-11
发明(设计)人: 潘孟春;陈棣湘;田武刚;周卫红;胡佳飞;李裴森;张琦;谢瑞芳 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科学技术大学
主分类号: G01N27/90 分类号: G01N27/90
代理公司: 湖南兆弘专利事务所(普通合伙)43008 代理人: 赵洪,谭武艺
地址: 410073 湖南省长沙市砚瓦池正街47*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种基于阵列电磁传感器的材料微损伤检测方法及系统,方法步骤包括预先针对阵列电磁传感器建立包含传感器转移阻抗、被测对象的材料物理属性和提离之间非线性关系的测量网格并存储在网格数据库中,获取阵列电磁传感器检测被测对象输出的各路转移阻抗信号并进行校准、信息融合后再分别作为自变量利用网格数据库搜索得到各个检测单元检测到的材料物理属性,再根据材料物理属性对被测对象进行微损伤评价;系统包括测量网格初始化程序模块、传感器校准程序模块、传感器信息融合程序模块、材料物理属性反演程序模块、微损伤评价程序模块。本发明具有微损伤检测准确性好、检测分辨力高、能够有效抑制提离干扰的优点。
搜索关键词: 一种 基于 阵列 电磁 传感器 材料 损伤 检测 方法 系统
【主权项】:
一种基于阵列电磁传感器的材料微损伤检测方法,其特征在于实施步骤包括:1)预先针对阵列电磁传感器建立包含传感器转移阻抗、被测对象的材料物理属性和提离之间非线性关系的测量网格并存储在网格数据库中,所述传感器转移阻抗是指实部和虚部或者幅度和相位,所述材料物理属性是指电导率或磁导率,所述提离是指阵列电磁传感器与被测对象之间的距离;当需要对被测对象进行材料微损伤检测时跳转执行步骤2);2)校准阵列电磁传感器各个检测单元输出的转移阻抗信号;3)将校准后的各路转移阻抗信号进行信息融合,得到进行信息融合后的各路转移阻抗信号;4)分别将进行信息融合后的各路转移阻抗信号作为自变量,利用网格数据库的测量网格进行搜索,得到阵列电磁传感器各个检测单元检测到的材料物理属性;5)根据阵列电磁传感器各个检测单元检测到的材料物理属性对被测对象进行微损伤评价。
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