[发明专利]一种提高光利用率的图像传感器及其制造方法有效
申请号: | 201710194755.3 | 申请日: | 2017-03-28 |
公开(公告)号: | CN106992194B | 公开(公告)日: | 2020-03-31 |
发明(设计)人: | 龟井诚司 | 申请(专利权)人: | 上海集成电路研发中心有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人: | 吴世华;陈慧弘 |
地址: | 201210 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种提高光利用率的图像传感器,包括集成衬底单元和交替隔离层,所述集成衬底单元中包括光电二极管;其中,还包括光通道沟槽、光通道和反射薄膜;所述光通道沟槽通过刻蚀所述交替隔离层形成,且位于上述光电二极管的正上方,为锥形沟槽;所述光通道填充在所述光通道沟槽中,所述反射薄膜位于所述锥形光通道沟槽的两边侧壁上,并且呈两边薄中间厚具有固定曲率的凸面,入射光通过所述光通道到达所述光电二极管。本发明提供的一种提高光利用率的图像传感器反射薄膜具有好的遮光效果,光通道具有好的折射效果,增加了光利用率,并且工艺简单,成本低,灵敏度小,噪音小。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 利用率 图像传感器 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种提高光利用率的图像传感器,包括集成衬底单元和交替隔离层,所述集成衬底单元中包括N型光电二极管和P型光电二极管;其特征在于,还包括光通道沟槽、光通道和反射薄膜;所述交替隔离层和光通道沟槽位于所述集成衬底单元的上方,所述光通道沟槽通过刻蚀所述交替隔离层形成,所述光通道沟槽位于上述N型光电二极管和P型光电二极管的正上方且为锥形沟槽;所述光通道填充在所述光通道沟槽中,所述反射薄膜位于所述锥形光通道沟槽的两边侧壁上,并且为两边薄中间厚具有固定曲率的凸面,入射光通过所述光通道到达所述N型光电二极管和P型光电二极管。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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