[发明专利]制备高密度多孔二维二硫化钼纳米片的方法有效

专利信息
申请号: 201710199969.X 申请日: 2017-03-30
公开(公告)号: CN106865616B 公开(公告)日: 2018-03-27
发明(设计)人: 张璋;苏绍强;曾志强;汤丹;程鹏飞;林晓姿;雷勇 申请(专利权)人: 华南师范大学
主分类号: C01G39/06 分类号: C01G39/06;B01J27/051;B01J35/10
代理公司: 北京卓岚智财知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11624 代理人: 任漱晨
地址: 526238 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及纳米材料制备技术领域,具体涉及一种制备高密度多孔二维二硫化钼纳米片的方法,所述方法包括,制备有序铝纳米洞AAO阵列模板;通过CVD法直接在SiO2/Si基底上生成单层MoS2纳米片;将有序铝纳米洞AAO阵列模板转移到单层MoS2纳米片上,得到MoS2纳米片样品;将MoS2纳米片样品转移到离子刻蚀腔体中进行刻蚀,并对MoS2纳米片样品进行轰击;去除MoS2纳米片样品上的模板,得到高密度多孔二维二硫化钼纳米片。本发明不但能够在二维MoS2的基面上引入类边界结构来增加活性位点数量,而且可以直接在SiO2/Si基底上生长单层MoS2,无需转移MoS2,避免了因转移过程中MoS2的损失。
搜索关键词: 制备 高密度 多孔 二维 二硫化钼 纳米 方法
【主权项】:
一种制备高密度多孔二维二硫化钼纳米片的方法,其特征在于,所述方法包括,制备有序铝纳米洞AAO阵列模板;通过CVD法直接在SiO2/Si基底上生成单层MoS2纳米片;将有序铝纳米洞AAO阵列模板转移到单层MoS2纳米片上,用氮气吹干,得到MoS2纳米片样品;将MoS2纳米片样品转移到离子刻蚀腔体中进行刻蚀,并对MoS2纳米片样品进行轰击;去除MoS2纳米片样品上的模板,得到高密度多孔二维二硫化钼纳米片。
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