[发明专利]一种确定表面平面度的方法及装置在审
| 申请号： | 201710201173.3 | 申请日： | 2017-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN107063060A | 公开（公告）日： | 2017-08-18 |
| 发明（设计）人： | 王凯;巩合具;何宝东 | 申请（专利权）人： | 北京正木激光设备有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/28 | 分类号： | G01B5/28 |
| 代理公司： | 北京冠和权律师事务所11399 | 代理人： | 朱健,陈国军 |
| 地址： | 101149 北京市通州区中关村科技园通*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种确定表面平面度的方法及装置。其中，该方法包括依次获取待测表面上多个采集点的空间位置信息，空间位置信息包括采集点的横坐标数据、纵坐标数据和高度数据；确定基准平面，基准平面为根据多个采集点的空间位置信息拟合而成的平面；分别确定每个采集点与基准平面之间的高度误差，并根据高度误差计算待测表面的平面度。该方法通过拟合的形式确定与采集点最相匹配的基准平面，有效避免了以实际存在的平面作为基准平面时的误差，且排除了人工干预时的潜在误差，从而极大地提高了平面度的检测精度；且该方法可以实现运行自动化，提高了检测重复性和可再现性，适用于自动化产线。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 确定 表面 平面 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种确定表面平面度的方法，其特征在于，包括以下步骤：依次获取待测表面上多个采集点的空间位置信息，所述空间位置信息包括所述采集点的横坐标数据、纵坐标数据和高度数据；确定基准平面，所述基准平面为根据多个采集点的空间位置信息拟合而成的平面；分别确定每个采集点与所述基准平面之间的高度误差，并根据所述高度误差计算所述待测表面的平面度。
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