[发明专利]一种基于多线性ICA的光谱张量降维的分类方法有效

专利信息
申请号: 201710204014.9 申请日: 2017-03-30
公开(公告)号: CN107194410B 公开(公告)日: 2020-01-14
发明(设计)人: 彭进业;闫荣华;汶德胜;冯晓毅;胡永明;王珺 申请(专利权)人: 西北大学;中国科学院西安光学精密机械研究所;西北工业大学
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62
代理公司: 61216 西安恒泰知识产权代理事务所 代理人: 王芳
地址: 710069 *** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种基于多线性ICA的光谱张量降维的分类方法,该方法将影响地物光谱特征的因素作为类内因素,并将类内因素、类与像素光谱分别作为一种模式构建成一个3阶张量,对其进行基于低秩张量分解的降维;对3阶张量D进行多线性ICA(独立成分分析)分解得到类空间矩阵C
搜索关键词: 一种 基于 线性 ica 光谱 张量 分类 方法
【主权项】:
1.一种基于多线性ICA的光谱张量降维的分类方法,其特征在于,包括以下步骤:/n步骤1,随机选取高光谱图像中的像素光谱作为训练集,所选取的像素光谱有L个波段、C类样本,分别在C类样本中的每类样本中随机选取W个像素光谱作为类内因素,其中C为大于等于1的自然数,W为大于等于1的自然数;/n步骤2,构建3阶张量
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西北大学;中国科学院西安光学精密机械研究所;西北工业大学,未经西北大学;中国科学院西安光学精密机械研究所;西北工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710204014.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top