[发明专利]一种基于多线性ICA的光谱张量降维的分类方法有效
申请号: | 201710204014.9 | 申请日: | 2017-03-30 |
公开(公告)号: | CN107194410B | 公开(公告)日: | 2020-01-14 |
发明(设计)人: | 彭进业;闫荣华;汶德胜;冯晓毅;胡永明;王珺 | 申请(专利权)人: | 西北大学;中国科学院西安光学精密机械研究所;西北工业大学 |
主分类号: | G06K9/62 | 分类号: | G06K9/62 |
代理公司: | 61216 西安恒泰知识产权代理事务所 | 代理人: | 王芳 |
地址: | 710069 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于多线性ICA的光谱张量降维的分类方法,该方法将影响地物光谱特征的因素作为类内因素,并将类内因素、类与像素光谱分别作为一种模式构建成一个3阶张量,对其进行基于低秩张量分解的降维;对3阶张量D进行多线性ICA(独立成分分析)分解得到类空间矩阵C | ||
搜索关键词: | 一种 基于 线性 ica 光谱 张量 分类 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于多线性ICA的光谱张量降维的分类方法,其特征在于,包括以下步骤:/n步骤1,随机选取高光谱图像中的像素光谱作为训练集,所选取的像素光谱有L个波段、C类样本,分别在C类样本中的每类样本中随机选取W个像素光谱作为类内因素,其中C为大于等于1的自然数,W为大于等于1的自然数;/n步骤2,构建3阶张量
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