[发明专利]基于多重分形维数的辐射源指纹特征提取方法在审
申请号: | 201710204722.2 | 申请日: | 2017-03-30 |
公开(公告)号: | CN106991393A | 公开(公告)日: | 2017-07-28 |
发明(设计)人: | 李靖超;应雨龙;董春蕾;陈志敏;苏科源;毕东媛 | 申请(专利权)人: | 上海电机学院 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00 |
代理公司: | 上海申汇专利代理有限公司31001 | 代理人: | 翁若莹,柏子雵 |
地址: | 201100 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提出了一种基于多重分形维数的辐射源指纹特征提取方法。本发明从解决辐射源个体特征难以识别的角度出发,在传统特征识别的基础上,基于信号分形复杂度特征,根据接收信号复杂程度的不同以及所处环境的噪声的情况,利用不同复杂度的分形维数特征,刻画信号的细微特性,建立特征数据库,从而实现更精细的信号特征提取,该算法计算简单,实现更低信噪比下的辐射源个体识别。 | ||
搜索关键词: | 基于 多重 分形维数 辐射源 指纹 特征 提取 方法 | ||
【主权项】:
一种基于多重分形维数的辐射源指纹特征提取方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1、对信号进行相空间重构,将信号分为N个小区域,第i个小区域的线度大小为εi,则第i个小区域的密度分布函数Pi用不同的标度指数αi描述为:Pi=ϵtαi,i=1,2,...,N]]>步骤2、将得到密度分布函数Pi代入:Dq=1q-1limϵ→0lnXq(ϵ)lnϵ=1q-1limϵ→0ln(Σi=1NPiq)lnϵ]]>计算得到广义分形维数Dq即可得到信号的多重分形维数特征,式中:Xq(ε)为各个区域的概率加权求和,q为参数,当q>>1时,中概率大的区域起主要作用,此时的Dq和Xq(ε)反应的是概率高区域的性质;当q→∞时,忽略小的概率,而只考虑概率较大的密度分布函数Pi,从而对广义分形维数Dq的计算进行简化;当q<<1时,Dq和Xq(ε)反应的是概率小区域的性质;当q=0,1,2时,分别定义D0为容量维数、D1为信息维数,D2为关联维数。
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