[发明专利]一种定位基站和定位系统在审
| 申请号： | 201710205091.6 | 申请日： | 2017-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN107144848A | 公开（公告）日： | 2017-09-08 |
| 发明（设计）人： | 张超 | 申请（专利权）人： | 成都理想境界科技有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/06 | 分类号： | G01S17/06;G01S7/481 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610041 四川省成都市*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种定位基站和定位系统，所述定位基站包括主体；旋转轴，设置于所述主体上，所述旋转轴的侧面设置有两个激光扫描器，所述两个激光扫描器对应的两个激光扫描面扫描到空间中同一点时的两个平面不重合，且任一激光扫描面不垂直于所述旋转轴；镜面机构，设置于所述主体上，所述镜面机构的镜面与所述旋转轴在同一侧。由于激光测量的精度在毫米级，并且定位速度在毫秒级，所以定位精度和定位速度相比于现有技术都大大提高，实现了精准和快速地实现空间定位的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 定位 基站 系统 | ||
【主权项】：
一种定位基站，其特征在于，包括：主体；旋转轴，设置于所述主体上，所述旋转轴的侧面设置有两个激光扫描器，所述两个激光扫描器对应的两个激光扫描面扫描到空间中同一点时的两个平面不重合，且任一激光扫描面不垂直于所述旋转轴；镜面机构，设置于所述主体上，所述镜面机构的镜面朝向所述旋转轴的侧面、且能够反射所述两个激光扫描器出射的激光扫描线。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都理想境界科技有限公司，未经成都理想境界科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710205091.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：通过传感器融合检测长对象
- 下一篇：一种高精度、宽量程的测距方法及系统
