[发明专利]一种存储部件测试方法和装置有效
| 申请号： | 201710207448.4 | 申请日： | 2017-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN108665937B | 公开（公告）日： | 2021-02-09 |
| 发明（设计）人： | 李光耀;吕玲 | 申请（专利权）人： | 深圳市中兴微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/18 | 分类号： | G11C29/18;G11C29/14;G11C29/36;G11C29/44;G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 彭瑞欣;张天舒 |
| 地址： | 518055 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种存储部件测试方法，获取存储部件的配置信息，根据所述配置信息，依照预设地址访问规则确定存储部件访问地址配置；根据所述存储部件访问地址配置，按预设存储部件读写规则对所述存储部件进行读写处理；获取对所述存储部件进行读写处理后的结果，根据预设检测规则，确定所述存储部件中出现错误的位置。本发明还公开了一种存储部件测试装置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储 部件 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种存储部件测试方法，其特征在于，所述方法包括：获取存储部件的配置信息，根据所述配置信息，依照预设地址访问规则确定存储部件访问地址配置；根据所述存储部件访问地址配置，按预设存储部件读写规则对所述存储部件进行读写处理；获取对所述存储部件进行读写处理后的结果，根据预设检测规则确定所述存储部件中出现错误的位置。
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