[发明专利]指纹配准方法及装置有效
| 申请号： | 201710210304.4 | 申请日： | 2017-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN107066961B | 公开（公告）日： | 2019-08-09 |
| 发明（设计）人： | 冯建江;周杰;李世豪 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 张润 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提出一种指纹配准方法及装置，其中，方法包括：获取待配准指纹和目标指纹，提取待配准指纹和目标指纹的指纹特征，其中指纹特征包括脊线特征和相位特征，利用两个指纹的脊线特征进行粗配准，然后获取两个指纹的相位特征在相位重合区域内的相位差异信息，根据相位差异信息对粗配准结果进行调整，得到两个指纹的最终配准结果。本实施例中，不再单纯地依赖脊线特征进行指纹配准，在脊线特征的基础上还增加了相位特征，并且进行两次配准操作，可以提高指纹配准的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 指纹 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种指纹配准方法，其特征在于，包括：获取待配准指纹和目标指纹；对所述待配准指纹和所述目标指纹进行特征提取，得到所述待配准指纹的第一指纹特征和所述目标指纹的第二指纹特征；其中，所述第一指纹特征包括第一脊线特征和第一相位特征；所述第二指纹特征中包括第二脊线特征和第二相位特征；基于所述第一脊线特征和所述第二脊线特征，对所述待配准指纹与所述目标指纹进行粗配准，得到粗配准结果；获取所述第一相位特征与所述第二相位特征之间的相位重合区域的相位差异信息；根据所述相位差异信息对所述粗配准结果进行调整，得到所述待配准指纹与所述目标指纹的最终配准结果；其中，所述获取所述第一相位特征相对于所述第二相位特征的相位差异信息，包括：根据所述第一脊线特征和所述第二脊线特征，拟合所述待配准指纹相对于所述目标指纹的第一变形模型；利用所述第一变形模型对所述第一相位特征进行变形；根据变形后的所述第一相位特征和所述第二相位特征，得到所述第一相位特征与所述第二相位特征之间的相位重合区域，根据所述相位重合区域得到所述相位差异信息。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学，未经清华大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710210304.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
