[发明专利]具有3D沟道的半导体器件及其制造方法有效
申请号: | 201710212763.6 | 申请日: | 2014-02-20 |
公开(公告)号: | CN107248503B | 公开(公告)日: | 2020-11-10 |
发明(设计)人: | 洪秀宪;姜熙秀;金炫助;沈相必;郑熙暾 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L21/8234 | 分类号: | H01L21/8234;H01L27/088 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 翟然 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种半导体器件,其包括具有在第一方向上纵向对准的第一鳍、第二鳍和第三鳍的基板。第一沟槽在第一鳍和第二鳍之间延伸,第二沟槽在第二鳍和第三鳍之间延伸。场绝缘材料的第一部分设置在第一沟槽中,场绝缘材料的第二部分设置在第二沟槽中。场绝缘材料的第二部分的上表面在第二沟槽中在第二鳍和第三鳍的最上表面下面的水平处凹进。第一虚设栅极设置在场绝缘材料的第一部分的上表面上,第二虚设栅极至少部分地延伸到第二沟槽中至场绝缘材料的第二部分的上表面。 | ||
搜索关键词: | 具有 沟道 半导体器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体器件,包括:基板,具有沟槽以及在第一方向上纵向对准的第一鳍和第二鳍,其中所述沟槽在所述第一鳍和所述第二鳍之间延伸;场绝缘材料的一部分,设置在插置在所述第一鳍和所述第二鳍之间的所述沟槽中,所述场绝缘材料的所述部分的上表面设置在所述第一鳍和所述第二鳍的最上表面下面的水平处;多个有源栅极,设置在所述第一鳍和所述第二鳍上;第一虚设栅极,至少部分地延伸到所述沟槽中至所述场绝缘材料的所述部分的所述上表面;以及第二虚设栅极,与所述第一虚设栅极相对,所述第二虚设栅极至少部分地延伸到所述沟槽中至所述场绝缘材料的所述部分的所述上表面。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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