[发明专利]半导体结构及其制造方法在审
申请号: | 201710212979.2 | 申请日: | 2017-04-01 |
公开(公告)号: | CN108336066A | 公开(公告)日: | 2018-07-27 |
发明(设计)人: | 林柏均 | 申请(专利权)人: | 南亚科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/552 | 分类号: | H01L23/552;H01L21/768 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 李昕巍;章侃铱 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种半导体结构包含一基板,具有一第一侧与一第二侧,该第一侧与该第二侧对立;一第一插塞,延伸穿过该基板;一第二插塞,延伸穿过该基板;以及一金属结构,位于该第一插塞与该第二插塞之间。该第一插塞通过该金属结构而与该第二插塞隔离,该第一插塞与该第二插塞经配置以连接至一信号源或传送一信号,以及该金属结构经配置以连接至一电源或接地。 | ||
搜索关键词: | 插塞 金属结构 基板 半导体结构 延伸穿过 接地 信号源 配置 传送 电源 隔离 对立 制造 | ||
【主权项】:
1.一种半导体结构,包括:一基板,包含一第一侧与一第二侧,该第一侧与该第二侧对立;一第一插塞,延伸穿过该基板;一第二插塞,延伸穿过该基板;一金属结构,位于该第一插塞与该第二插塞之间,其中该第一插塞通过该金属结构而与该第二插塞隔离,该第一插塞与该第二插塞经配置以连接至一信号源或传送一信号,以及该金属结构经配置以连接至一电源或接地。
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