[发明专利]基于稀疏先验的单像素探测器光谱反射率重构方法在审

专利信息
申请号: 201710213402.3 申请日: 2017-04-01
公开(公告)号: CN107084789A 公开(公告)日: 2017-08-22
发明(设计)人: 张雷洪;李贝;康祎;占文杰;易文娟;陈智闻;耿润 申请(专利权)人: 上海理工大学
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司31001 代理人: 吴宝根
地址: 200093 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种基于稀疏先验的单像素探测器光谱反射率重构方法,对训练样本集进行主成分分析,获取训练样本集的光谱反射率数据的前三个主成份,作为重建基函数向量;通过单像素探测器进行单个多光谱测试色块光谱能量的采集,得到能量值U;在训练样本集的求解过程中,得到基函数向量B、基函数向量系数a以及测量矩阵的特定系数通过所得到的对单个多光谱测试色块光谱能量U采集,重构测试样本的反射率。本发明能够充分利用光谱反射率空间稀疏特征和照明光源相对光谱功率分布基于主成分正交基的稀疏先验知识,降低多光谱数据采集系统的光学复杂度,降低采样数,提高反射率的光谱重建效率,提高重建精度。
搜索关键词: 基于 稀疏 先验 像素 探测器 光谱 反射率 方法
【主权项】:
一种基于稀疏先验的单像素探测器光谱反射率重构方法,其特征在于,具体包括如下步骤:1)对训练样本集的处理:对于面阵物体的光谱反射率的获取,采用CCD阵列采集调制后的物体的光谱反射率的能量值,CCD每个像素作为单像素探测器对物体的相应位置进行光能量值的测量,进而获取面阵物体的多光谱反射率,并利用下面的公式(1)对所获取的反射率光谱进行主成分分析,从而得到训练样本集的J个基函数向量,即对于训练样本,其训练样本集所有的光谱反射率R及对应的单像素探测器采集到的能量值u均为已知,为MATLAB软件的输入值,通过MATLAB软件求得基函数向量B、基函数向量系数a及测量矩阵M的特定系数R=Σj=1Jajbj---(1)]]>展开后R=Ba=[b1,b2,...,bJ][a1,a2,...,aJ]T其中测量矩阵2)对单个多光谱测试色块的处理:使用已知光谱功率分布的照明光源照明物体,对物体的光谱反射率信息进行调制,通过单像素探测器进行单个多光谱测试色块光谱能量的采集,得到能量值U;3)对单个多光谱测试色块的反射率光谱重建:在步骤1)训练样本集的求解过程中,基函数向量B、基函数向量系数a以及测量矩阵的特定系数都已知,通过步骤2)所得到的对单个多光谱测试色块光谱能量U采集,重构测试样本的反射率过程为:先通过公式(3)求解出检验样本的基函数向量系数(A1,A2,...AJ),然后再通过公式(4)重构光谱反射率r,r=BA=[b1,b2,...,bJ][A1,A2,...,AJ]T (4)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海理工大学,未经上海理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710213402.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top