[发明专利]一种高分辨率成像系统在审
申请号: | 201710213960.X | 申请日: | 2017-04-01 |
公开(公告)号: | CN106982315A | 公开(公告)日: | 2017-07-25 |
发明(设计)人: | 刘海岗;许子健;王春鹏;陶旭磊;邰仁忠 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海应用物理研究所 |
主分类号: | H04N5/225 | 分类号: | H04N5/225 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司31002 | 代理人: | 邓琪 |
地址: | 201800 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明公开了一种高分辨率成像系统,其包括信号采集装置,信号采集装置包括光信号探测器;待探测光信号的光轴垂直于所述光信号探测器的探测平面,其中,所述高分辨率成像系统还包括遮挡件,其被配置为可与待探测光信号的光轴中心对准,并且在中心对准状态下所述遮挡件对待探测光信号在其光轴方向上的遮挡面积呈中心对称且面积可调;遮光罩,其与所述光信号探测器连接,所述遮光罩上开设有第一开口,该第一开口与所述遮光罩的内部空间共同形成待探测光信号的光路通道。本发明的高分辨率成像系统能提高光信号探测器对样品后高频衍射信号采集的有效性,提高采集信号的信噪比,同时又尽可能地减少中心低频信号的丢失,从而提高成像系统的分辨率。 | ||
搜索关键词: | 一种 高分辨率 成像 系统 | ||
【主权项】:
一种高分辨率成像系统,其包括信号采集装置,所述信号采集装置包括光信号探测器;待探测光信号的光轴垂直于所述光信号探测器的探测平面,其特征在于,所述高分辨率成像系统还包括:遮挡件,其被配置为可与待探测光信号的光轴中心对准,并且在中心对准状态下所述遮挡件对待探测光信号在其光轴方向上的遮挡面积呈中心对称且面积可调;遮光罩,其与所述光信号探测器连接,所述遮光罩上开设有第一开口,该第一开口与所述遮光罩的内部空间共同形成待探测光信号的光路通道。
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