[发明专利]一种消除多通道切换电路影响的两线测试装置及方法在审

专利信息
申请号: 201710223531.0 申请日: 2017-04-07
公开(公告)号: CN108693405A 公开(公告)日: 2018-10-23
发明(设计)人: 孙德冲;贾丰锴;张莉莉;蔡惠华;葛萌 申请(专利权)人: 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 吕岩甲
地址: 100076 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明属于测控技术领域,具体涉及一种消除多通道切换电路影响的两线测试装置及方法。该装置包括第一测试通道和第二测试通道,第一测试通道和第二测试通道均包括上通道和下通道,四个通道均设置有内部切换继电器;第一测试通道的上通道和下通道上的内部切换继电器均与测试通道外部接线端接插件的测试芯点x1连接,第二测试通道的上通道和下通道上的内部切换继电器均与测试通道外部接线端接插件的测试芯点x2连接;被测标准电阻端接插件的两个接线端之间连接被测标准电阻。本发明可应用在多通道自动连续低阻测试的系统中,降低成本的同时实现较高的准确度,完全消除测试通道的切换继电器的导通电阻对测试准确度的影响。
搜索关键词: 测试通道 继电器 接插件 上通道 下通道 多通道切换 外部接线端 标准电阻 测试装置 测试 电路 测试准确度 测控技术 导通电阻 自动连续 准确度 多通道 接线端 低阻 应用
【主权项】:
1.一种消除多通道切换电路影响的两线测试装置,其特征在于:包括第一测试通道和第二测试通道,第一测试通道和第二测试通道均包括上通道和下通道,四个通道均设置有内部切换继电器;第一测试通道的上通道和下通道上的内部切换继电器均与测试通道外部接线端接插件的测试芯点x1连接,第二测试通道的上通道和下通道上的内部切换继电器均与测试通道外部接线端接插件的测试芯点x2连接;被测标准电阻端接插件的两个接线端之间连接被测标准电阻。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院,未经北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710223531.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top