[发明专利]一种消除多通道切换电路影响的两线测试装置及方法在审
申请号: | 201710223531.0 | 申请日: | 2017-04-07 |
公开(公告)号: | CN108693405A | 公开(公告)日: | 2018-10-23 |
发明(设计)人: | 孙德冲;贾丰锴;张莉莉;蔡惠华;葛萌 | 申请(专利权)人: | 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02 |
代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 吕岩甲 |
地址: | 100076 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明属于测控技术领域,具体涉及一种消除多通道切换电路影响的两线测试装置及方法。该装置包括第一测试通道和第二测试通道,第一测试通道和第二测试通道均包括上通道和下通道,四个通道均设置有内部切换继电器;第一测试通道的上通道和下通道上的内部切换继电器均与测试通道外部接线端接插件的测试芯点x1连接,第二测试通道的上通道和下通道上的内部切换继电器均与测试通道外部接线端接插件的测试芯点x2连接;被测标准电阻端接插件的两个接线端之间连接被测标准电阻。本发明可应用在多通道自动连续低阻测试的系统中,降低成本的同时实现较高的准确度,完全消除测试通道的切换继电器的导通电阻对测试准确度的影响。 | ||
搜索关键词: | 测试通道 继电器 接插件 上通道 下通道 多通道切换 外部接线端 标准电阻 测试装置 测试 电路 测试准确度 测控技术 导通电阻 自动连续 准确度 多通道 接线端 低阻 应用 | ||
【主权项】:
1.一种消除多通道切换电路影响的两线测试装置,其特征在于:包括第一测试通道和第二测试通道,第一测试通道和第二测试通道均包括上通道和下通道,四个通道均设置有内部切换继电器;第一测试通道的上通道和下通道上的内部切换继电器均与测试通道外部接线端接插件的测试芯点x1连接,第二测试通道的上通道和下通道上的内部切换继电器均与测试通道外部接线端接插件的测试芯点x2连接;被测标准电阻端接插件的两个接线端之间连接被测标准电阻。
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