[发明专利]进给轴控制装置中的频率特性测定方法有效
申请号: | 201710224198.5 | 申请日: | 2017-04-07 |
公开(公告)号: | CN107272576B | 公开(公告)日: | 2021-03-16 |
发明(设计)人: | 宫路匡;则久孝志 | 申请(专利权)人: | 大隈株式会社 |
主分类号: | G05B19/401 | 分类号: | G05B19/401 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供进给轴控制装置中的频率特性测定方法,不产生微振磨损且不受作用于驱动系统的摩擦或空程的影响,而正确地测定频率特性。执行如下的步骤:移动步骤(步骤1A),以进给轴的移动速度固定的速度参照值Vref作为指令而使进给轴沿一个方向移动;施振步骤(步骤2A~步骤4),将振幅小于速度参照值Vref的大小的正弦波赋予给扫描信号Vadd来进行施振;测定步骤(从步骤5至全部频率测定完成),测定包括电机的进给轴驱动系统的频率特性。 | ||
搜索关键词: | 进给 控制 装置 中的 频率特性 测定 方法 | ||
【主权项】:
一种进给轴控制装置中的频率特性测定方法,在进给轴控制装置中测定频率特性,所述进给轴控制装置根据由来自上位装置或速度指令运算器的速度参照值和为了测定频率特性而扫描的扫描信号形成的速度指令值来驱动电机,控制被驱动体的可动部的速度或位置,所述频率特性测定方法的特征在于,执行如下步骤:移动步骤,以所述进给轴的移动速度固定的所述速度参照值作为指令而使所述进给轴沿一个方向移动;施振步骤,将振幅小于所述速度参照值的大小的正弦波赋予给所述扫描信号来进行施振;以及测定步骤,测定包括所述电机的进给轴驱动系统的频率特性。
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