[发明专利]一种信号分析方法及装置有效
| 申请号： | 201710228667.0 | 申请日： | 2017-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN108685561B | 公开（公告）日： | 2021-07-27 |
| 发明（设计）人： | 李华平;陈岚 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | A61B5/00 | 分类号： | A61B5/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王宝筠 |
| 地址： | 100029 北京市朝阳*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出一种信号分析方法，包括：获取待分析的信号；其中，所述信号包含第一波形信号；然后从所述信号中检测得到第一波形信号的各个第一波形位置；并且根据所述第一波形信号的各个第一波形位置，将所述信号划分为多个信号片段；其中，每个信号片段中至少包含一个所述第一波形信号的第一波形位置；最后，分别将每个信号片段中的信号，与设定的标准信号进行对比，判断每个信号片段中的信号的信号质量。在上述信号分析方法中，将待分析的信号分成多个信号片段，分别判断每个信号片段中的信号的信号质量，从而获取待分析信号在不同时间段的信号质量，有利于根据待分析信号的信号质量的实时变化，有针对性地选择信号去噪方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 信号 分析 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种信号分析方法，其特征在于，包括：获取待分析的信号；其中，所述信号包含第一波形信号；从所述信号中检测得到第一波形信号的各个第一波形位置；其中所述第一波形位置为所述第一波形信号中的设定的波形位置；根据所述第一波形信号的各个第一波形位置，将所述信号划分为多个信号片段；其中，每个信号片段中至少包含一个所述第一波形信号的第一波形位置；分别将每个信号片段中的信号，与设定的标准信号进行对比，判断每个信号片段中的信号的信号质量。
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