[发明专利]多光谱线温真温测量装置和方法

摘要

本发明提供了一种多光谱线温真温测量装置和方法。该装置包括狭缝、主物镜、45°半透半反镜、准直物镜、组合分光棱镜、暗箱物镜、反射镜、目镜以及多个S4111‑16Q探测器阵列。光源发出的光透过狭缝入射至主物镜，经过45°半透半反镜后分为两部分，一部分反射至目镜；另一部分透射至准直物镜，经过准直物镜后成为平行光束；该平行光束经组合分光棱镜后按波长分为不同波长的多个单波长平行光束；经暗箱物镜聚焦后，再经反射镜反射后分别由多个S4111‑16Q探测器阵列接收，每个S4111‑16Q探测器阵列为16单元光电探测器、且对应分光后的其中一个波长。本发明的上述技术能够获得一条线上各点的光谱强度值，适用于连续光谱辐射目标的真温及发射率的测量。

主权项

1.多光谱线温真温测量装置，其特征在于，所述多光谱线温真温测量装置包括狭缝(T)、主物镜(L1)、45°半透半反镜(FS)、准直物镜(L2)、组合分光棱镜(P)、暗箱物镜(L3)、反射镜(M)、目镜(L4)、以及多个S4111‑16Q探测器阵列(A)；所述狭缝(T)设置于待测线温的位置处，以使光源发出的光透过所述狭缝(T)入射至所述主物镜(L1)；所述45°半透半反镜(FS)设于所述主物镜(L1)与所述准直物镜(L2)之间，使得从所述主物镜(L1)出射的光束经过所述45°半透半反镜(FS)后分为两部分光束：一部分光束被所述45°半透半反镜(FS)反射至所述目镜(L4)；另一部分光束透过所述45°半透半反镜(FS)后入射至所述准直物镜(L2)，经过所述准直物镜(L2)后成为平行光束；从所述准直物镜(L2)出射的平行光束经过所述组合分光棱镜(P)后按波长分为多个单波长平行光束，其中，从所述组合分光棱镜(P)出射的各单波长平行光束之间的波长互不相同、且出射角度互不相同；从所述组合分光棱镜(P)出射的多个单波长平行光束经所述暗箱物镜(L3)聚焦后，再经反射镜(M)反射后分别由多个S4111‑16Q探测器阵列(A)接收，其中，每个S4111‑16Q探测器阵列(A)为16单元光电探测器，且每个S4111‑16Q探测器阵列(A)对应接收所述多个单波长平行光束中的其中一束；其中，针对所述多个S4111‑16Q探测器阵列(A)中的每一个S4111‑16Q探测器阵列(A)，该S4111‑16Q探测器阵列(A)所接收到的单波长平行光束的光斑为条型光斑，该条形光斑投影到该S4111‑16Q探测器阵列的16个光电探测器单元，该S4111‑16Q探测器阵列(A)的16个光电探测器单元依次接收对应位置的光强值。