[发明专利]用于测量目标对象的尺寸的方法和系统在审
| 申请号： | 201710237334.4 | 申请日： | 2017-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN107289855A | 公开（公告）日： | 2017-10-24 |
| 发明（设计）人： | 亚历山大·施泰因菲尔德;理查德·莱登;乔治·刘;乌德列赫·加瓦莱 | 申请（专利权）人： | 西克股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人： | 邓云鹏 |
| 地址： | 美国明*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于测量目标对象的尺寸的方法。所述方法包括获取表示物理空间的深度数据，所述深度数据包括所述目标对象的数据；将所述深度数据转换成点云；从所述点云提取至少一个平面；识别地平面；从所述点云排除所述地平面；从剩余的点云提取至少一个点集群；识别所述目标对象的点集群；基于所述目标对象的所述点集群来估计所述目标对象的体积。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 目标 对象 尺寸 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种用于测量目标对象的尺寸的方法，包括：获取表示物理空间的深度数据，所述深度数据包括所述目标对象的数据；将所述深度数据转换成点云；从所述点云提取至少一个平面；识别地平面；从所述点云排除所述地平面；从剩余的点云提取至少一个点集群；识别所述目标对象的点集群；基于所述目标对象的所述点集群来估计所述目标对象的体积。
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