[发明专利]一种关于继电器抖断抖闭时间的测量方法有效
申请号: | 201710243210.7 | 申请日: | 2017-04-14 |
公开(公告)号: | CN106970319B | 公开(公告)日: | 2020-07-03 |
发明(设计)人: | 李明;程丛高;任万滨;陈宇;王宗武;张哲;朱金阳;李刚 | 申请(专利权)人: | 中国航空综合技术研究所 |
主分类号: | G01R31/327 | 分类号: | G01R31/327;G01R19/25;G01R29/02 |
代理公司: | 北京孚睿湾知识产权代理事务所(普通合伙) 11474 | 代理人: | 王冬杰 |
地址: | 100028 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种关于继电器抖断抖闭时间的测量方法和测量装置,包括:继电器在外界振动条件下,触点对会随机发生瞬时的断开或闭合,进而引起触点对两端产生瞬时变化的电压信号;将被测电压信号经高速比较器,与阈值电压比较,利用FPGA对高速比较器输出脉冲信号进行处理、脉冲宽度分析,从而实现对变化时间的精确测量;需要再次测量时,根据触点对状态测试系统可自动更改测试条件,控制阈值切换开关更改高速比较器的阈值电压,完成测量。本测量方法具有测试系统小型化、硬件电路简洁化以及时间参数精确化的特点。 | ||
搜索关键词: | 一种 关于 继电器 抖断抖闭 时间 测量方法 | ||
【主权项】:
一种关于继电器抖断抖闭时间的测量方法,其步骤如下:由恒压源对成串联连接的负载电阻和待测触点对进行激励,所述负载电阻包括并联的第一电阻和第二电阻,所述第一电阻与所述待测触电对中的第一待测触点对串联,所述第二电阻与所述待测触电对中的第二待测触点对串联;并且所述恒压源对于成串联关系的分压电阻进行激励,获得第一阈值电压U1和第二阈值电压U2;由FPGA控制阈值切换开关,根据所述待测触点对的状态,将所述第一阈值电压U1和所述第二阈值电压U2分别加载到第一高速比较器或第二高速比较器上,所述第一待测触点对的第一电压信号Uc1经所述第一高速比较器与所述第一阈值电压U1做比较,所述第二待测触点对的第二电压信号Uc2经所述第二高速比较器与所述第二阈值电压U2做比较;所述第一待测触点对或所述第二待测触点对发生抖断抖闭时,所述第一待测触点对的第一电压信号Uc1经所述第一高速比较器输出为规则的第一短脉冲信号,或所述第二待测触点对的第二电压信号Uc2经所述第二高速比较器输出为规则的第二短脉冲信号;FPGA接收到所述第一短脉冲信号或所述第二短脉冲信号,根据所述FPGA的时基信号粗测脉冲宽度,同时利用内插算法获得抖断抖闭时间。
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