[发明专利]一种检测双轴水平精度的方法及装置在审

专利信息
申请号: 201710243754.3 申请日: 2017-04-14
公开(公告)号: CN106989714A 公开(公告)日: 2017-07-28
发明(设计)人: 吴世蔚;郭晓旗;魏静;霍耀广;张冠中 申请(专利权)人: 北京机械设备研究所
主分类号: G01B21/22 分类号: G01B21/22;G01C9/00
代理公司: 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙)11386 代理人: 王涛,王一
地址: 100854 北京市海淀区永*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种检测双轴水平精度的方法,根据被测物的调平精度要求及测量基准面安装条件选择测量元器件;将选择好的除水平传感器外的测量元器件进行布局组装到外壳中形成测量装置本体;测量装置本体与水平传感器采用电缆连接;将水平传感器安装于底座上,放置于测量基准面上,水平传感器将采集的模拟信号经电缆远距离传输给测量装置本体进行数据处理并显示,实现水平测量。本发明方法能够在严苛条件下实时检测双轴水平精度值,能够满足狭窄空间的测量,且当测量基准面较高时,操作人员无需登高即可测量基准面水平精度,提高了被测物水平精度的检测速度,提高了操作的安全性。
搜索关键词: 一种 检测 水平 精度 方法 装置
【主权项】:
一种检测双轴水平精度的方法,其特征在于,具体包括:S1、根据被测物的调平精度要求及测量基准面安装条件选择测量元器件;S2、将选择好的除水平传感器外的测量元器件进行布局组装到外壳中形成测量装置本体;所述测量装置本体与水平传感器采用电缆连接;S3、将水平传感器安装于底座上,放置于基准面上,水平传感器将采集的模拟信号经电缆远距离传输给测量装置本体进行数据处理并显示,实现水平测量。
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