[发明专利]一种PET探测器与晶体相互作用深度的测量方法及装置有效

专利信息
申请号: 201710243980.1 申请日: 2017-04-14
公开(公告)号: CN107015264B 公开(公告)日: 2019-05-21
发明(设计)人: 冯凯 申请(专利权)人: 广东工业大学
主分类号: G01T1/29 分类号: G01T1/29
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 罗满
地址: 510062 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种PET探测器与晶体相互作用深度的测量方法及装置,其中该方法包括:沿晶体的长度方向,将晶体上每隔预设距离的位置处的横截面进行工艺处理成网状横截面;在所述晶体沿长度方向的两端分别耦合一个PET探测器;将点放射源依次放置到所述晶体沿长度方向的一侧且与所述网状横截面对齐的位置处,进行所述PET探测器与所述晶体相互作用深度的测量。由此,通过对晶体实现的上述处理,能够使得点放射源对晶体侧面的均匀照射程度较高,从而达到测得的相互作用深度相关数据准确性较高的目的。
搜索关键词: 一种 pet 探测器 晶体 相互作用 深度 测量方法 装置
【主权项】:
1.一种PET探测器与晶体相互作用深度的测量方法,其特征在于,包括:沿晶体的长度方向,将晶体上每隔预设距离的位置处的横截面进行工艺处理成网状横截面;在所述晶体沿长度方向的两端分别耦合一个PET探测器;将点放射源依次放置到所述晶体沿长度方向的一侧且与所述网状横截面对齐的位置处,进行所述PET探测器与所述晶体相互作用深度的测量;进行所述PET探测器与所述晶体相互作用深度的测量之后,还包括:获取进行所述PET探测器与所述晶体相互作用深度的测量得到的作用数据,并基于所述作用数据生成对应的作用深度曲线及能谱曲线。
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