[发明专利]非易失性存储器装置、其程序化方法及其数据读取方法有效
申请号: | 201710244317.3 | 申请日: | 2017-04-14 |
公开(公告)号: | CN107945823B | 公开(公告)日: | 2020-07-28 |
发明(设计)人: | 王立中 | 申请(专利权)人: | 中天鸿骏半导体(上海)有限公司 |
主分类号: | G11C7/18 | 分类号: | G11C7/18;G11C8/14 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 余明伟 |
地址: | 201306 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: |
一种非易失性存储器装置、其程序化方法及其数据读取方法。本发明FSNOR快闪阵列将多个旋转90度的NOR型非易失性存储器NVM单元配对配置为列的组态,利用多条场边次位线连接起来,达到4F |
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搜索关键词: | 非易失性存储器 装置 程序化 方法 及其 数据 读取 | ||
【主权项】:
一种非易失性存储器NVM装置,其特征在于包含:一存储器阵列,包含多个NVM单元且在一基板上被配置为具有行与列的组态,各所述NVM单元包含一电荷储存物质、一控制栅极、一源极电极以及一漏极电极,该存储器阵列分为多个扇区且各扇区包含多行的NVM单元,一行中多个NVM单元被配置成多个单元配对,各单元配对共用一个共源极电极,且各列中多个单元配对的共源极电极形成一扩散共源极线,其中一扇区内各列中多个单元配对的偶数单元的漏极形成一偶数次位线,而一扇区内各列中多个单元配对的奇数单元的漏极形成一奇数次位线,其中一行中多个NVM单元的控制栅极形成一字线;多行的选择晶体管,分别配置于所述扇区之间,以致于两行的选择晶体管分别配置于各扇区的第一侧及第二侧,并连接至同一扇区的所述奇数次位线与所述偶数次位线,其中位于该第一侧的该行的选择晶体管的栅极形成一第一选择线,而位于该第二侧的该行的选择晶体管的栅极形成一第二选择线,其中相邻行的各选择晶体管配对相连接并设置一第一电气接点于二者之间;以及多条位线以及多条通用源极线,沿着列的方向延伸,并且沿着字线的长度方向交替地配置,其中位于一第一层的所述通用源极线透过相对应于所述选择晶体管位置的多个第二电气接点,分别连接至位于一第二层的所述相邻的扩散共源极线,其中位于该第一层的所述位线透过相邻的所述第一电气接点,分别连接至位于该第二层的相邻的所述奇数次位线与所述偶数次位线;其中,位于各扇区内的所述NVM单元并未包含任何接点。
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