[发明专利]一种非接触测量特征点的生成方法有效
申请号: | 201710245344.2 | 申请日: | 2017-04-14 |
公开(公告)号: | CN107356209B | 公开(公告)日: | 2019-07-05 |
发明(设计)人: | 孟祥林;何万涛;车向前;郭延艳;赵灿;周波 | 申请(专利权)人: | 黑龙江科技大学 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 深圳市智科友专利商标事务所 44241 | 代理人: | 曲家彬 |
地址: | 150022 黑龙江*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 一种非接触测量特征点的生成方法,解决非接触测量采用粘贴特征点而带来的测量误差问题,方法是:1.将第一组激光光斑阵列投射到被测物表面的第一测量区域内,两组激光光斑阵列中互相包含三个或三个以上非共线的激光光斑特征点,2.根据每个激光光斑特征点的位置、尺度以及方向信息,作为多个成像视角下唯一识别标记,3.利用圆形约束算法,删除步骤2中提取的激光光斑特征点算法的结果中,非激光光斑特征点的其他所有非法特征点,通过SIFT算法的特征匹配,完成激光光斑中心的同名点匹配,4.循环重复步骤1‑3完成每次测量区域内的测量特征点的生成。有益效果特征点生产简单,简单易操作等优点。特征点与实际点位误差小,其密度与激光光斑阵列相匹配。 | ||
搜索关键词: | 一种 接触 测量 特征 生成 方法 | ||
【主权项】:
1.一种非接触测量特征点的生成方法,其特征在于:该方法由以下步骤实现:步骤1.将第一组激光光斑阵列投射到被测物表面的第一测量区域内,同时将第二组激光光斑阵列投射与第一组激光光斑阵列相邻区域上形成两组具有近似尺寸和特征的激光光斑阵列,将每个激光光斑列为激光光斑特征点,第一测量区域内的第一组激光光斑阵列与第二组激光光斑阵列中互相包含三个或三个以上非共线的激光光斑特征点;步骤2.根据激光光斑分布位置不同,带来的激光光斑图像上的像点大小、形状和灰度值的差异,根据SIFT算法,提取激光光斑特征点的中心,根据每个激光光斑特征点的位置、尺度以及方向信息,作为多个成像视角下唯一识别标记;步骤3.利用圆形约束算法,删除步骤2中提取的激光光斑特征点算法的结果中,非激光光斑特征点的其他所有非法特征点,通过SIFT算法的特征匹配,完成激光光斑中心的同名点匹配;步骤4.循环重复步骤1‑3完成每次测量区域内的测量特征点的生成。
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