[发明专利]一种基于夏克-哈特曼波前传感器的光学系统波像差测量装置与方法有效

专利信息
申请号: 201710247966.9 申请日: 2017-04-17
公开(公告)号: CN107144419B 公开(公告)日: 2019-03-19
发明(设计)人: 齐月静;卢增雄;齐威;苏佳妮;杨光华;张清洋;李兵;王宇 申请(专利权)人: 中国科学院光电研究院
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 代理人: 董李欣
地址: 100094*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于夏克‐哈特曼波前传感器的光学系统波像差测量装置和测量方法,该装置包括波长可调谐激光器、衰减器、聚焦物镜、Y型光纤耦合器、第一五维调整台、第一物镜、第一小孔板、准直物镜、分光板、第一夏克‐哈特曼波前传感器、成像物镜、待测光学系统、球面反射镜、第二夏克‐哈特曼波前传感器和数据处理模块。该测量装置结合了第一夏克‐哈特曼波前传感器和第二夏克‐哈特曼波前传感器,从测量结果中计算待测光学系统的波像差,只需一套测量装置便可实现不同工作波长光学系统像差的测量。
搜索关键词: 一种 基于 哈特曼波前 传感器 光学系统 波像差 测量 装置 方法
【主权项】:
1.一种基于夏克‑哈特曼波前传感器的光学系统波像差测量装置,其特征在于,该装置包括波长可调谐激光器(1)、衰减器(2)、聚焦物镜(3)、Y型光纤耦合器(4)、第一五维调整台(5)、第一物镜(6)、第一小孔板(7)、准直物镜(8)、分光板(9)、第一夏克‑哈特曼波前传感器(10)、成像物镜(11)、待测光学系统(12)、球面反射镜(13)、第二夏克‑哈特曼波前传感器(14)和数据处理模块(15);其中,波长可调谐激光器(1)发出特定波长的激光光束,经衰减器(2)和聚焦物镜(3)后耦合入Y型光纤耦合器(4)的总端(400),然后分别从Y型光纤耦合器(4)的第一分支端(40a)和第二分支端(40b)出射,Y型光纤耦合器(4)的第一分支端(40a)出射的光束经第一物镜(6)后聚焦到第一小孔板(7)上,经第一小孔板(7)上的第一小孔板小孔(7a)衍射后,获得近于理想的球面波,该球面波经准直物镜(8)准直后,被分光板(9)分成两束,一束光通过分光板(9),另一束光被分光板(9)反射,透过分光板(9)的光束,进入第一夏克‑哈特曼波前传感器(10),将第一夏克‑哈特曼波前传感器(10)的测量结果传到数据处理模块(15),经数据处理模块(15)处理后得到准直物镜(8)的波像差,被分光板(9)反射的光束经成像物镜(11)后,进入待测光学系统(12),透过待测光学系统(12)后,由球面反射镜(13)反射后,沿原路返回,分别经过待测光学系统(12)、成像物镜(11)后,透过分光板(9)进入第二夏克‑哈特曼波前传感器(14),将第二夏克‑哈特曼波前传感器(14)的测量结果传到数据处理模块(15),经数据处理模块(15)处理后得到准直物镜(8)、成像物镜(11)、待测光学系统(12)和球面反射镜(13)的波像差信息,数据处理模块(15)再根据第一夏克‑哈特曼波前传感器(10)测量结果、第二夏克‑哈特曼波前传感器(14)测量结果以及球面反射镜的面形信息,计算得待测光学系统(12)的波像差。
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