[发明专利]一种定制滑块的摩擦副流体薄膜轴向流速成像测量装置有效
申请号: | 201710248478.X | 申请日: | 2017-04-17 |
公开(公告)号: | CN106896239B | 公开(公告)日: | 2019-08-20 |
发明(设计)人: | 韩素立;郭峰;邵晶;栗心明;杨萍;许祯 | 申请(专利权)人: | 青岛理工大学 |
主分类号: | G01P5/26 | 分类号: | G01P5/26 |
代理公司: | 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 | 代理人: | 张勇 |
地址: | 266520 山东省青*** | 国省代码: | 山东;37 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种定制滑块的摩擦副流体薄膜轴向流速成像测量装置,包括照明机构、摩擦副、横向光学观测机构和轴向光学观测机构,所述照明机构为流体标记提供光源,摩擦副包括定制滑块,流体标记通过定制滑块的反射,形成标记的虚像,横向光学观测机构测量并记录垂直于流体标记厚度方向的光学图像,轴向光学观测机构测量并记录流体标记形成的虚像的光学图像,通过对比摩擦副相对于流体标记静止和运动时的图像差异,以实现流体在限制间隙中的三维流速测量与分析。本发明设备简单,易操作。 | ||
搜索关键词: | 一种 定制 摩擦 流体 薄膜 轴向 流速 成像 测量 装置 | ||
【主权项】:
1.一种定制滑块的摩擦副流体薄膜轴向流速成像测量装置,其特征是:包括照明机构、摩擦副、横向光学观测机构和轴向光学观测机构,所述照明机构为流体标记提供光源,所述摩擦副包括定制滑块和基底,所述流体标记通过定制滑块的反射,形成标记的虚像,所述横向光学观测机构测量并记录垂直于流体标记厚度方向的光学图像,所述轴向光学观测机构测量并记录流体标记形成的虚像的光学图像,通过对比摩擦副相对静止和运动时的流体标记图像的差异,以实现流体在限制间隙中的三维流速测量与分析;所述定制滑块,为斜楔块状结构,具有上下两个平行水平面,一侧为斜面,流体标记的图像经过该斜面反射,形成虚像。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于青岛理工大学,未经青岛理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710248478.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。