[发明专利]用于重现仪器的校准凭证的方法和系统有效
申请号: | 201710248680.2 | 申请日: | 2017-04-17 |
公开(公告)号: | CN107423332B | 公开(公告)日: | 2022-05-13 |
发明(设计)人: | R.基奇 | 申请(专利权)人: | ABB瑞士股份有限公司 |
主分类号: | G06F16/903 | 分类号: | G06F16/903;G06F16/907 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 张金金;刘春元 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及用于从电子仪器重现所述仪器的校准凭证的方法和系统。电子仪器具有至少一个电子存储部件。方法包括以下步骤:‑将校准凭证数据分成第一子集的数据和第二子集的数据,该第一子集的数据是校准特定的,该第二子集的数据是文档描述性的,‑限定关于第二子集的数据的元数据集;‑将第一子集的数据和元数据集存储在仪器的电子存储部件中;‑将第二子集的数据存储在与电子仪器分离的计算设备中;‑通过将第一子集的数据和元数据集上传到计算设备并且从上传的第一子集的数据、元数据集和第二子集的数据重建校准凭证来重现校准凭证(代表图:图1)。 | ||
搜索关键词: | 用于 重现 仪器 校准 凭证 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种用于从电子仪器(21)重现所述仪器(21)的校准凭证(27)的方法,所述电子仪器(21)具有至少一个电子存储部件(22),所述方法包括以下步骤:‑ 将所述校准凭证(27)数据分成第一子集的数据(52)和第二子集的数据,所述第一子集的数据(52)是校准特定的,所述第二子集的数据是文档描述性的,‑限定关于所述第二子集的数据的元数据集;‑将所述第一子集的数据(52)和所述元数据集存储在所述仪器的电子存储部件(22)中;‑将所述第二子集的数据存储在与所述电子仪器(21)分离的计算设备(25a)中;‑通过将所述第一子集的数据(52)和所述元数据集上传到所述计算设备(25a)并且从上传的第一子集的数据(52)、所述元数据集和所述第二子集的数据重建所述校准凭证(27)来重现所述校准凭证(27)。
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