[发明专利]一种制作低温多晶硅薄膜晶体管的方法在审

专利信息
申请号: 201710249455.0 申请日: 2017-04-17
公开(公告)号: CN107039284A 公开(公告)日: 2017-08-11
发明(设计)人: 李松杉 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L21/285;H01L29/786
代理公司: 北京聿宏知识产权代理有限公司11372 代理人: 吴大建,王浩
地址: 430070 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明属于显示面板技术领域。本发明公开了一种制作低温多晶硅薄膜晶体管的方法,包括依次在衬底基板上形成栅极层、有源层、源漏极接触层和源漏电极。形成源漏极接触层的过程包括形成沟道保护层;使用包含乙硼烷的反应气体,通过等离子体增强化学气相沉积的方法沉积欧姆接触层,并对其进行构图,形成源漏极接触层。在沉积欧姆接触层的过程中,硼离子会进入源漏极接触层中。此种方法不再需要采用掩膜定义硼离子植入区域,省去了硼离子植入的过程,简化了工艺流程,降低了制造成本。
搜索关键词: 一种 制作 低温 多晶 薄膜晶体管 方法
【主权项】:
一种制作低温多晶硅薄膜晶体管的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:S11:在衬底基板上形成栅极层的过程;S12:形成有源层的过程;S13:形成源漏极接触层的过程;S14:形成源漏电极层的过程,其中,形成所述源漏极接触层的过程包括:形成沟道保护层,并通过等离子体增强化学气相沉积的方法沉积欧姆接触层,其中使用的反应气体包含乙硼烷,然后,对所述欧姆接触层进行图形化处理,形成所述源漏极接触层。
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