[发明专利]一种超声小角度探头K值、前沿快速测试方法在审
申请号: | 201710252447.1 | 申请日: | 2017-04-18 |
公开(公告)号: | CN106970156A | 公开(公告)日: | 2017-07-21 |
发明(设计)人: | 周翔;宋伟;徐先满;王智杰;邓川;葛文建 | 申请(专利权)人: | 南通友联数码技术开发有限公司 |
主分类号: | G01N29/30 | 分类号: | G01N29/30 |
代理公司: | 南京钟山专利代理有限公司32252 | 代理人: | 戴朝荣 |
地址: | 226000 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种超声小角度探头K值、前沿快速测试方法,其特征在于包含以下步骤将纵波小角度探头放置在TZS‑R试块侧面,并移动纵波小角度探头找到人工刻槽最高反射回波,此时探头前端至试块上端面距离为L1,得到公式(L1+L0)/175=tanβ=K (1),将纵波小角度探头向下移动,找到水平刻度200mm处棱角的最高反射回波,此时探头前端至试块上端面距离为L2,得到公式(L2+L0)/200=tanβ=K (2),连列公式(1)和公式(2)得到(L1+L0)/175=(L2+L0)/200,求得前沿L0=7L2‑8L1;将L0=7L2‑8L1代入公式(1)求得K=(L2‑L1)/25,β=tan‑1(L2‑L1)/25。本发明节约测试时间,提高测试效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 超声 角度 探头 前沿 快速 测试 方法 | ||
【主权项】:
一种超声小角度探头K值、前沿快速测试方法,其特征在于包含以下步骤:步骤一:将纵波小角度探头放置在TZS‑R试块侧面,并移动纵波小角度探头找到人工刻槽最高反射回波,此时探头前端至试块上端面距离为L1,得到公式(L2+L0)/200=tanβ=K (1)其中,L0为探头前沿,β为探头折射角,K为探头K值;步骤二:将纵波小角度探头向下移动,找到水平刻度200mm处棱角的最高反射回波,此时探头前端至试块上端面距离为L2,得到公式(L1+L0)/175=(L2+L0)/200 (2)步骤三:连列公式(1)和公式(2)得到(L1+L0)/175=(L2+L0)/200 (3)求得前沿L0=7L2‑8L1;步骤四:将L0=7L2‑8L1代入公式(1)求得K=(L2‑L1)/25β=tan‑1(L2‑L1)/25。
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