[发明专利]一种多表面系统的综合测量与评估方法有效
| 申请号： | 201710254739.9 | 申请日： | 2017-04-18 |
| 公开（公告）号： | CN107091627B | 公开（公告）日： | 2020-07-28 |
| 发明（设计）人： | 孔令豹 | 申请（专利权）人： | 复旦大学 |
| 主分类号： | G01B21/04 | 分类号： | G01B21/04;G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人： | 陆飞;陆尤 |
| 地址： | 200433 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明属于光学测量技术领域，具体为一种多表面系统的综合测量与评估方法。本发明具体步骤包括：在统一坐标框架下对多面系统进行表面的三维坐标数据测量，并结合多面系统的设计模型，进行表面几何特征的计算；随后进行表面几何特征的优选，并以此进行最佳表面系统匹配；然后进行表面系统的质量评估，包括各个面的相对误差、整体偏差，以及对单个面或感兴趣的某个面进行评估等。本发明多表面系统包括渐进式镜片、自由曲面棱镜等。采用本发明方法可实现各类复杂曲面及组合面系统的系统误差和面型误差的分析评估，包括基于厚度参数的一系列参数评估。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 表面 系统 综合 测量 评估 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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