[发明专利]冷冻电镜三维密度图分辨率检测方法有效
| 申请号： | 201710255814.3 | 申请日： | 2017-04-19 |
| 公开（公告）号： | CN107092790B | 公开（公告）日： | 2019-07-09 |
| 发明（设计）人： | 沈红斌;杨宇蛟 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G16C20/70 | 分类号： | G16C20/70;G06T17/00 |
| 代理公司： | 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 | 代理人： | 李庆 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种冷冻电镜三维密度图分辨率检测方法，包括步骤：输入冷冻电镜三维密度图和纯噪声三维密度图；生成掩膜集；利用各掩膜分别对纯噪声三维密度图进行分割分别获得第一膜内数据和第一膜外数据；计算第一膜内噪声谱功率和第一膜外噪声谱功率；计算获得线性参数集；利用各掩膜分别对冷冻电镜三维密度图进行分割分别获得第二膜内数据和第二膜外数据；根据第二膜内数据、第二膜外数据和线性参数集计算获得各掩膜所对应的第二膜内数据谱信噪比曲线图；根据第二膜内数据谱信噪比曲线图获得分辨率集，根据分辨率集绘制分辨率集三维曲面图；获得全局分辨率值。本发明的一种冷冻电镜三维密度图分辨率检测方法，具有简单、直观、操作便捷的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 冷冻 三维 密度 分辨率 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种冷冻电镜三维密度图分辨率检测方法，包括步骤：S1：输入一冷冻电镜三维密度图和所述冷冻电镜三维密度图的一纯噪声三维密度图；S2：根据所述冷冻电镜三维密度图生成一掩膜集，所述掩膜集包括n个大小不同的掩膜，n为大于零的整数；S3：利用各所述掩膜分别对所述纯噪声三维密度图进行分割分别获得所述纯噪声三维密度图的与各所述掩膜对应的一第一膜内数据和一第一膜外数据；S4：根据所述第一膜内数据和所述第一膜外数据计算各所述掩膜对应的一第一膜内噪声谱功率和一第一膜外噪声谱功率；S5：根据各组所述第一膜内噪声谱功率和所述第一膜外噪声谱功率计算获得一线性参数集λp；![]()
其中，0≤p≤n，且p为整数，![]()
为第p掩膜所对应的第一膜内噪声谱功率，![]()
为第p掩膜所对应的第一膜外噪声谱功率；λp为线性拟合参数；S6：利用各所述掩膜分别对所述冷冻电镜三维密度图进行分割分别获得所述冷冻电镜三维密度图的与各所述掩膜对应的一第二膜内数据和一第二膜外数据；S7：根据所述第二膜内数据、所述第二膜外数据和所述线性参数集计算获得各掩膜所对应的第二膜内数据谱信噪比曲线图；S8：根据所述第二膜内数据谱信噪比曲线图获得一分辨率集，并根据所述分辨率集绘制一分辨率集三维曲面图；S9：根据所述分辨率集三维曲面图计算获得所述冷冻电镜三维密度图的一全局分辨率值。
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