[发明专利]相移器的相移特性的估计装置、方法以及测试设备有效
| 申请号： | 201710259924.7 | 申请日： | 2017-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN108732426B | 公开（公告）日： | 2020-11-03 |
| 发明（设计）人： | 叶彤;陶振宁;陈浩 | 申请（专利权）人： | 富士通株式会社 |
| 主分类号： | G01R27/28 | 分类号： | G01R27/28 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 陶海萍;田勇 |
| 地址： | 日本神奈*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种相移器的相移特性的估计装置、方法以及测试设备。所述估计方法包括：对一电光调制器的待测相移器加载直流电信号和交流电信号，使得所述电光调制器输出的光信号产生至少两个谐波分量；根据不同的所述直流电信号下产生的不同谐波分量来计算所述待测相移器的相移特性信息。由此，不仅测试(或者估计)结果可以准确地应用在高频信号下，而且测试结果与电光调制器的结构设计无关；此外对温度以及耦合等外界条件不敏感。 | ||
| 搜索关键词： | 相移 特性 估计 装置 方法 以及 测试 设备 | ||
【主权项】：
1.一种相移器的相移特性的估计装置，其特征在于，所述估计装置包括：信号加载单元，其对一电光调制器的待测相移器加载直流电信号和交流电信号，使得所述电光调制器输出的光信号产生至少两个谐波分量；信息计算单元，其根据不同的所述直流电信号下产生的不同谐波分量来计算所述待测相移器的相移特性信息。
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