[发明专利]CVD设备及其温度控制方法与发热体在审
申请号: | 201710261801.7 | 申请日: | 2017-04-20 |
公开(公告)号: | CN108728828A | 公开(公告)日: | 2018-11-02 |
发明(设计)人: | 杜志游;郑振宇;田保峡 | 申请(专利权)人: | 中微半导体设备(上海)有限公司 |
主分类号: | C23C16/46 | 分类号: | C23C16/46;C23C16/458;C30B25/10;C30B25/12 |
代理公司: | 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 | 代理人: | 朱成之 |
地址: | 201201 上海市浦东新*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供CVD设备及其温度控制方法与发热体。其中,用于加热可旋转基片承载盘的发热体至少包括加热功率可独立控制的第一加热丝(S1)与第二加热丝(S2);所述第一、二加热丝在所述基片承载盘上的加热区域至少部分重叠;所述第一加热丝作用在基片承载盘上的圆周平均热功率在沿以点(O’)为圆心的半径方向上的分布,与所述第二加热丝作用在基片承载盘上的圆周平均热功率在沿所述半径方向上的分布不同,其中,所述点(O’)为基片承载盘旋转轴线(OO’)与基片承载盘下表面的交点。 | ||
搜索关键词: | 加热丝 基片承载盘 发热体 热功率 可旋转基片承载盘 圆心 独立控制 加热功率 加热区域 下表面 转轴线 加热 盘旋 承载 | ||
【主权项】:
1.一种用于加热可旋转基片承载盘的发热体,所述基片承载盘(40)的上表面用于承载一个或多个基片,所述发热体配置于所述基片承载盘的下表面的下方;所述发热体至少包括加热功率可独立控制的第一加热丝(S1)与第二加热丝(S2),用于加热位于发热体上方的基片承载盘下表面;所述第一加热丝至少包括第一加热段与第二加热段,所述第二加热丝包括至少一个加热段;所述第一加热丝最近端到基片承载盘旋转轴线(OO’)的距离记为S1min,所述第一加热丝最远端到基片承载盘旋转轴线(OO’)的距离记为S1max;所述第二加热丝最近端到基片承载盘旋转轴线(OO’)的距离记为S2min,所述第二加热丝最远端到基片承载盘旋转轴线(OO’)的距离记为S2max,由S1min与S1max确定的数值区间[S1min,S1max]与由S2min与S2max确定的数值区间[S2min,S2max]之间的交集不为空集;所述第一加热丝作用在基片承载盘上的圆周平均热功率在沿以点(O’)为圆心的半径方向上的分布,与所述第二加热丝作用在基片承载盘上的圆周平均热功率在沿所述半径方向上的分布不同,其中,所述点(O’)为基片承载盘旋转轴线(OO’)与基片承载盘下表面的交点。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
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C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的