[发明专利]一种基于H桥电阻的绝缘电阻测量电路的校准方法及装置

摘要

本发明实施例提供的一种基于H桥电阻的绝缘电阻测量电路的校准方法及装置，通过调节标准电压源的电压大小和测量环境温度大小并获取测试电阻两端的电压的测量值；在不同温度下对标准电压源的电压U‑和U和所述测试电阻两端的第一测量电压Ux‑和第二测量电压Ux进行线性拟合，获得不同温度下的线性参数，包括斜率k‑、k和偏移值b‑、b；根据不同温度值对应的线性参数进行分段计算,并分别校准不同温度下的电阻测量电路中的直流母线电压U、负母线对地电压U‑和所述测试电阻两端的电压的测量关系公式，实现了温度补偿，使得对绝缘电阻的测量更加接近真实值，测量结果更加精确，解决了现有的绝缘电阻测量方法电阻阻值受温度变化的影响导致测量精度不高的技术问题。

主权项

1.一种基于H桥电阻的绝缘电阻测量电路的校准方法，其特征在于，包括：接通与PE端和DC‑端对应的平衡支路，断开其他支路，根据第一初始化指令在PE端和DC‑端接入标准电压源；调节所述标准电压源的电压U‑大小和测量环境温度大小并获取测试电阻两端的第一测量电压Ux‑的测量值；接通与DC+端和DC‑端的总回路，断开PE支路，根据第二初始化指令在DC+端和DC‑端接入标准电压源；调节所述标准电压源的电压U大小和测量环境温度大小并获取测试电阻两端的第二测量电压Ux的测量值；在不同温度下对所述标准电压源的电压U‑和所述测试电阻两端的第一测量电压Ux‑的测量值进行线性拟合，在不同温度下对所述标准电压源的电压U和所述测试电阻两端的第二测量电压Ux的测量值进行线性拟合，获得不同温度下的线性参数，所述线性参数包括斜率k‑、k和偏移值b‑、b；根据不同温度值对应的线性参数进行分段计算并分别校准不同温度下的电阻测量电路；所述在不同温度下对所述标准电压源的电压U‑和所述测试电阻两端的第一测量电压Ux‑进行线性拟合，获得不同温度下的线性参数具体包括：在不同温度下对所述标准电压源的电压U‑和所述测试电阻两端的第一测量电压Ux‑的测量值进行线性拟合，获得所述标准电压源的电压U‑和所述测试电阻两端的第一测量电压Ux‑的实际关系公式：U‑＝(U_X‑/R5)*(R4+R5)*k‑+b‑其中，U‑为所述标准电压源的电压，Ux‑为所述测试电阻两端的第一测量电压，R4为平衡支路上的分压电阻的阻值，R5为平衡支路上的测试电阻的阻值，k‑为斜率，b‑为偏移值；根据所述实际关系公式获得斜率k‑和偏移值b‑；所述在不同温度下对所述标准电压源的电压U和所述测试电阻两端的第二测量电压Ux的测量值进行线性拟合，获得不同温度下的线性参数具体包括：在不同温度下对所述标准电压源的电压U和所述测试电阻两端的第二测量电压Ux的测量值进行线性拟合，获得所述标准电压源的电压U和所述测试电阻两端的第二测量电压Ux的实际关系公式：U＝(Ux/R5)*(R2+R3+R4+R5)*k+b其中，U为所述标准电压源的电压，Ux为所述测试电阻两端的第二测量电压，R2、R3和R4为平衡支路上的分压电阻的阻值，R5为平衡支路上的测试电阻的阻值，k为斜率，b为偏移值；根据所述实际关系公式获得斜率k和偏移值b；所述根据不同温度值对应的线性参数进行分段计算并分别校准不同温度下的电阻测量电路具体包括：确定当前测试环境温度，获取对应的线性参数；根据所述线性参数调节直流母线间电压、母线对地电压和所述测试电阻两端的电压的测量关系公式。