[发明专利]一种散热性好的Ga2O3基金属氧化物半导体场效应晶体管及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201710263443.3 申请日: 2017-04-21
公开(公告)号: CN106920849B 公开(公告)日: 2019-07-02
发明(设计)人: 董鑫;梁红伟;张源涛;夏晓川;张宝林;杜国同 申请(专利权)人: 吉林大学
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/267;H01L23/373;H01L21/02
代理公司: 长春吉大专利代理有限责任公司 22201 代理人: 刘世纯
地址: 130012 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明公开了一种散热性好的Ga2O3基金属氧化物半导体场效应晶体管及其制备方法,属于功率半导体器件及其制备技术领域,该器件由衬底、Ga2O3缓冲层、Ga2O3沟道层、Ga2O3源、漏区、Al2O3绝缘层、金属电极等部件构成;其特征在于:器件衬底是Si单晶,在衬底和Ga2O3缓冲层中间还制备有氮化物和氧化物混合多层结构;混合多层结构由GaN系多层结构薄膜、Ga2O3氧化薄层、非故意掺杂Ga2O3下缓冲层、镁掺杂Ga2O3半绝缘层构成。本发明解决了Ga2O3材料的异质外延问题,并克服了目前Ga2O3基MOSFET器件所使用的Ga2O3单晶衬底的散热性差,售价高等缺点;该发明还能够利用Si材料的工艺成熟、售价低、易集成、散热性好的优点,使Ga2O3基MOSFET器件接近实用化。
搜索关键词: 一种 散热 ga2o3 基金 氧化物 半导体 场效应 晶体管 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种散热性好的Ga2O3基金属氧化物半导体场效应晶体管,依次由衬底(1),衬底(1)上制备的Ga2O3上缓冲层(2),Ga2O3上缓冲层(2)上外延的Ga2O3沟道层(3),沟道层(3)上制备的相互分立的源区(4)、漏区(5),源区(4)、漏区(5)和沟道层(3)的部分区域上沉积的Al2O3绝缘层(6),源区(4)、漏区(5)和绝缘层(6)上通过热蒸发制备的源电极(7)、栅电极(8)和漏电极(9);其特征在于:衬底(1)是Si单晶,在衬底(1)和Ga2O3上缓冲层(2)中间还制备有氮化物和氧化物混合多层结构(101);所述混合多层结构(101)由GaN系多层结构薄膜(10)、Ga2O3薄层(11)、Ga2O3薄层(11)上制备的UID‑Ga2O3下缓冲层(12)、UID‑Ga2O3下缓冲层(12)上制备的Ga2O3半绝缘层(13)组成;Ga2O3上缓冲层(2)制备在半绝缘层(13)上;GaN系多层结构薄膜(10)采用AlN、AlGaN及GaN多层薄膜结构,其最上层为高质量GaN薄膜。
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