[发明专利]一种无成像目标显著性检测与坐标跟踪系统及方法有效
| 申请号： | 201710266558.8 | 申请日： | 2017-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN107421439B | 公开（公告）日： | 2019-05-14 |
| 发明（设计）人： | 石剑虹;陈慧超;曾贵华 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 上海旭诚知识产权代理有限公司 31220 | 代理人： | 郑立 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种无成像目标显著性检测与坐标跟踪系统，包括光源、空间光调制装置、透镜、探测器与处理器模块，其中空间光调制装置用于调制光源发射的光并照射至目标处，透镜用于汇聚目标的反射光，桶探测器用于探测反射光的强度，处理器用于采集桶探测器的数据及对目标进行无成像目标显著性检测与坐标跟踪。本发明还提供一种无成像目标显著性检测与坐标跟踪方法。本发明提供的无成像目标显著性检测与坐标跟踪系统及方法，将获取的傅里叶系数矩阵直接计算目标的显著性区域，不进行恢复图像，通过谱残差理论实现无成像的目标跟踪，无成像减少了成像过程的计算量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 成像 目标 显著 检测 坐标 跟踪 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种无成像目标显著性检测与坐标跟踪系统，其特征在于，所述无成像目标显著性检测与坐标跟踪系统包括光源、空间光调制装置、透镜、探测器与处理器模块，其中所述空间光调制装置用于调制所述光源发射的光并照射至目标处，所述空间光调制装置使用预置调制信息进行光场调制，生成空间光场为四步正弦相移结构光分布的光场，所述透镜用于汇聚所述目标的反射光，所述探测器用于探测所述反射光的强度，所述处理器模块用于采集所述探测器的数据及对目标进行无成像目标显著性检测与坐标跟踪。
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