[发明专利]调温设备和检查传感器装置功能性的方法有效

专利信息
申请号: 201710275550.8 申请日: 2017-02-24
公开(公告)号: CN107132866B 公开(公告)日: 2019-04-05
发明(设计)人: A·拉普 申请(专利权)人: 捷温有限责任公司
主分类号: G05D23/20 分类号: G05D23/20
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 曾立
地址: 德国奥德*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种用于对至少一个对象进行调温的设备,包括将热能和/或冷能输出至相应对象的热电元件;为了控制热电元件,处理器单元耦接至热电元件;所述设备包括传感器装置,其具有至少一个传感器以检测在热电元件区域中构成的实际温度和至少一个构造成处理器单元组成部分的、另外的传感器以检测在处理器单元区域中构成的实际温度;处理器单元与传感器装置连接;处理器单元用于将借助至少一个传感器检测在热电元件区域中构成的实际温度与借助至少一个另外的传感器检测在处理器单元区域中构成的实际温度进行比较;在考虑比较下处理器单元能推导出关于传感器装置功能性的结论。
搜索关键词: 调温 设备 检查 传感器 装置 功能 方法
【主权项】:
1.一种用于对至少一个对象(6)进行调温的设备(2),该设备包括:‑热电元件(4),用于将热能和/或冷能输出至相应的对象(6),‑处理器单元(12),该处理器单元为了控制所述热电元件(4)而耦接到所述热电元件(4)上,以及‑传感器装置(20),该传感器装置具有:a)至少一个传感器(8),用于检测在所述热电元件(4)区域中构成的实际温度,和b)至少一个另外的传感器(14),该至少一个另外的传感器构造成所述处理器单元(12)的组成部分并且用于检测在所述处理器单元(12)区域中构成的实际温度,其中,所述处理器单元(12)与所述传感器装置(20)处于连接,并且所述处理器单元构造用于将借助所述至少一个传感器(8)检测到的在热电元件区域中构成的实际温度与借助所述至少一个另外的传感器(12)检测到的在处理器单元区域中构成的实际温度进行比较,并且所述处理器单元能够在考虑该比较的情况下推导出关于所述传感器装置(20)功能性的结论,其中,所述处理器单元(12)能够检查所述热电元件(4)的塞贝克电压,并且其中,所述处理器单元(12)构造成:在存在塞贝克电压的情况下,该处理器单元禁止将检测到的实际温度进行比较,并且,在不存在塞贝克电压的情况下,该处理器单元允许进行实际温度的比较。
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