[发明专利]一种基于螺旋光束的三维超分辨率成像系统在审
申请号: | 201710276271.3 | 申请日: | 2017-04-24 |
公开(公告)号: | CN107478619A | 公开(公告)日: | 2017-12-15 |
发明(设计)人: | 李恒 | 申请(专利权)人: | 深圳大学 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 深圳中一专利商标事务所44237 | 代理人: | 阳开亮 |
地址: | 518000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明实施例提供一种基于螺旋光束的三维超分辨率成像系统,其包括按照光路方向依次排列的激光器、激发滤光片、扩束准直系统、第一显微透镜、共聚焦荧光显微系统、纳米位移台、第一消色差透镜、光调制器件、第二消色差透镜和光探测器件。本发明实施例通过提供一种由激光器、激发滤光片、扩束准直系统、第一显微透镜、共聚焦荧光显微系统、纳米位移台、第一消色差透镜、光调制器件、第二消色差透镜和光探测器件组成的基于螺旋光束的三维超分辨率成像系统,系统结构简单、易于实现,整个系统基于拉盖尔高斯模式叠加的自成像原理实现,成像深度大,通过光调制器件来产生一个螺旋光束、光能利用率高且易于探测。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 螺旋 光束 三维 分辨率 成像 系统 | ||
【主权项】:
一种基于螺旋光束的三维超分辨率成像系统,其特征在于,所述三维超分辨率成像系统包括按照光路方向依次排列的激光器、激发滤光片、扩束准直系统、第一显微透镜、共聚焦荧光显微系统、纳米位移台、第一消色差透镜、光调制器件、第二消色差透镜和光探测器件;所述激光器发射激光光束,所述激发滤光片对所述激光光束进行滤光,所述扩束准直系统对滤光后的所述激光光束进行扩束和准直,所述共聚焦荧光显微系统将扩束和准直后的所述激光光束聚焦并投射至位于所述纳米位移台上的样品,所述共聚焦荧光显微系统还对所述样品反射回来的荧光光束进行滤光并聚焦于所述第一消色差透镜的物方焦点,所述第一消色差透镜对滤光后的所述荧光光束进行消色差后传递至所述光调制器件,所述光调制器件对消色差后的所述荧光光束进行相位调制得到螺旋光束,所述第二消色差透镜对所述螺旋光束进行消色差后传递至所述光探测器件,所述光探测器件对消色差后的所述螺旋光束进行光电转换和模数转换后得到数字图像信号。
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