[发明专利]一种考虑应力下的纳米晶高频磁特性检测装置及测量方法

摘要

本发明公开了一种考虑应力下的纳米晶高频旋转磁特性检测系统，包括考虑应力下的纳米晶高频旋转磁特性检测装置、功率放大器、差分放大电路以及数字信号处理单元；所述纳米晶高频旋转磁特性检测装置，包括磁路为由两个U型的磁芯交错90°对插组成，磁芯由纳米晶带材绕指切割而成、四个方型激磁绕组固定在磁芯顶端，下部磁芯通过卡扣固定在支架上，待测样品放在两个磁芯中间，对称放置、在样品两边分别施加液压夹具，对样品施加应力、上部磁芯通高度可调节卡扣固定在支架上，通过调节磁芯高度以适应不同尺寸样品。相对于现有技术，该系统结构单一，磁路清晰合理，磁芯制作加工简单。

主权项

1.一种考虑应力下的纳米晶高频磁特性检测装置，其特征在于，包括考虑应力下的纳米晶高频旋转磁特性检测装置、功率放大器、差分放大电路以及数字信号处理单元；数字信号处理单元发出激磁信号，信号通过功率放大器以后加入到磁特性检测装置的激磁绕组部分，对样品进行激磁，使其充分磁化。然后附着在样品表面的B‑H传感线圈收集信号，传送至数字信号处理单元，从而生成样品的B‑H曲线。所述纳米晶高频旋转磁特性检测装置，包括磁路为由两个U型的磁芯交错90°对插组成，磁芯由纳米晶带材绕指切割而成、四个方型激磁绕组固定在磁芯顶端，与样品紧密接触、下部磁芯通过卡扣固定在支架上，待测样品放在两个磁芯中间，对称放置、在样品两边分别施加液压夹具，对样品施加应力、上部磁芯通过可调节脱扣固定在支架上，通过脱扣的高度调节，压紧测试样品。