[发明专利]基于改进mRMR的模拟电路故障诊断方法有效
申请号: | 201710291023.6 | 申请日: | 2017-04-28 |
公开(公告)号: | CN107255785A | 公开(公告)日: | 2017-10-17 |
发明(设计)人: | 杨雷雷;单剑锋 | 申请(专利权)人: | 南京邮电大学 |
主分类号: | G01R31/316 | 分类号: | G01R31/316 |
代理公司: | 南京知识律师事务所32207 | 代理人: | 李湘群 |
地址: | 210003 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明公开了基于改进mRMR的模拟电路故障诊断方法,首先对标准的mRMR原则进行优化,在其原始判断依据中引入一个权重因子,这个权重因子用来细化相关性和冗余性。其次提取模拟电路的故障特征作为原始的故障特征集,利用mRMR原则对其进行原始故障特征集进行优化。以指定步长得出一组嵌套的故障特征集合,以诊断的正确率作为标准,在这组故障特征集合中选取最优特征子集。采用SVVD作为分类器,核函数选用径向基核函数,借助遗传算法的搜索能力得出最优的惩罚参数和核函数参数。本发明引入特征相关冗余权重因子以细化对特征相关性和冗余性的度量,通过对权重进行不同的赋值,对准则中特征相关性与冗余性的加权系数进行调整,以求得到最好的特征选择结果。 | ||
搜索关键词: | 基于 改进 mrmr 模拟 电路 故障诊断 方法 | ||
【主权项】:
基于改进mRMR的模拟电路故障诊断方法,其特征在于包含以下步骤:S1:提供激励信号至诊断电路;S2:选择测试点;S3:提取原始故障特征;S4:结合改进mRMR原则得出最优故障子集,并构造故障样本;S5:利用遗传算法优化SVVD分类器惩罚参数和核函数参数得出诊断结果。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京邮电大学,未经南京邮电大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710291023.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种线路板的多物理量测量系统及测量方法
- 下一篇:一种磷酸铁锂电池LOC模型