[发明专利]一种感光芯片测试设备

摘要

本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种感光芯片测试设备，包括上盖、底座和卡钩，在测试感光芯片时，先将感光芯片放置于芯片槽中，然后将上盖与底座通过卡钩卡合，卡合后，第一密封凸起和第一密封凹槽配合形成第一密封部，此外，触发部抵压芯片槽内的感光芯片，进而感光芯片压缩探针，形成测试回路。测试过程操作简单，易于生产，成本较低，且第一密封凸起和第一密封凹槽的设置可避免光源发出的光外泄，也能消除外界光对测试的干扰，提高了测试的准确率。

主权项

一种感光芯片测试设备，其特征在于，包括：上盖，其包括上盖本体和从上到下依次设置于所述上盖本体内的光源、滤光片和压板，所述压板的下端面设置有凸出于所述压板端面的触发部；底座，其包括底座本体，所述底座本体上设置有放置感光芯片的芯片槽，所述芯片槽内设置有探针；卡钩，测试时所述上盖与所述底座通过所述卡钩卡合，所述上盖的卡合面设置有第一密封凸起，所述底座的卡合面设置有与所述第一密封凸起相配合的第一密封凹槽，卡合后，所述第一密封凸起和第一密封凹槽配合形成第一密封部，此外，所述触发部抵压所述芯片槽内的感光芯片，所述感光芯片压缩所述探针，从而形成测试回路。