[发明专利]一种多通道微波组件测试系统在审
| 申请号： | 201710295808.0 | 申请日： | 2017-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN107422199A | 公开（公告）日： | 2017-12-01 |
| 发明（设计）人： | 邹铁城;陈忠睿;丁义超;马识途;肖玉林;金涛;侯奇峰;秦跃利;孙毅 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第二十九研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司51214 | 代理人： | 钱成岑 |
| 地址： | 610036 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种多通道微波组件测试系统，具体包括通道控制模块和测试模块，所述通道控制模块用于根据测试要求控制待测多通道微波组件各通道开闭，所述测试模块用于测试待测微波组件；所述通道控制模块包括控制信号发送模块、射频输入模块、微波组件放置模块和射频输出模块，所述射频输入模块和射频输出模块可拆卸可移动连接所述通道控制模块，所述微波组件放置模块可拆卸固定连接所述通道控制模块；所述控制信号发送模块对应连接所述射频输入模块，所述微波组件放置模块对应连接所述射频输入模块和所述射频输出模块，所述射频输出模块对应连接所述测试模块。该测试模块操作简单、测试效率高、通用性强，有利于多通道微波组件的批量测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 通道 微波 组件 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种多通道微波组件测试系统，其特征在于包括通道控制模块和测试模块，所述通道控制模块用于根据测试要求控制待测多通道微波组件各通道开闭，所述测试模块用于测试待测微波组件，所述通道控制模块包括控制信号发送模块、射频输入模块、微波组件放置模块和射频输出模块，所述射频输入模块和射频输出模块可拆卸可移动连接所述通道控制模块，所述微波组件放置模块可拆卸固定连接所述通道控制模块，所述控制信号发送模块对应连接所述射频输入模块，所述微波组件放置模块对应连接所述射频输入模块和所述射频输出模块，所述射频输出模块对应连接所述测试模块。
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